Occasion JEOL JSM 5800LV #293586819 à vendre en France

JEOL JSM 5800LV est un microscope électronique à balayage avancé (SEM) qui fournit des capacités d'imagerie haute résolution pour la science des matériaux et les applications électroniques à l'état solide. Il est équipé d'une source d'électrons à haute résolution d'émission de champ et d'un porte-échantillon de sonde froide qui permet des températures d'échantillon extrêmement basses pour une meilleure résolution. Le faisceau d'électrons haute énergie de JEOL JSM 5800 LV permet l'imagerie à haut débit d'une grande variété de matériaux. Il a une grande profondeur de champ et peut représenter les caractéristiques structurelles de la nano-échelle à la micro-échelle. JSM 5800LV dispose d'une grande chambre à vide qui est conçue pour accueillir des échantillons de 175 mm de diamètre ou plus avec l'enveloppe de taille optionnelle. Il est équipé d'un double appareil photo de télévision pour la mise au point fine et le contrôle de grossissement qui est connecté à un moniteur pour une visualisation facile des images. De plus, la grande chambre permet d'imager jusqu'à trois échantillons en même temps avec une fonction de superposition. JSM 5800 LV est également livré avec un système intégré d'acquisition et d'analyse de données, qui permet d'enregistrer et d'analyser des images au microscope électronique en temps réel. L'unité comprend une puissante machine d'analyse d'image, qui permet le traitement automatisé des images, l'analyse des données et les mesures quantitatives. L'outil intégré dispose également d'un logiciel spécial pour la reconstruction 3D d'images d'échantillons et de données de diffraction. JSM 5800LV est un SEM polyvalent qui a été conçu pour fournir des capacités d'imagerie haute résolution pour la science des matériaux et les applications électroniques à l'état solide. Sa combinaison de matériel avancé et de logiciels permet aux utilisateurs d'obtenir des images haute résolution de matériaux et d'appareils à l'échelle nanométrique. D'un point de vue opérationnel, la grande chambre à vide et l'outil intégré d'acquisition/analyse de données en font un outil efficace et fiable. De plus, le porte-échantillon à basse température permet aux utilisateurs d'imaginer une grande variété de matériaux à très haute résolution, ce qui est essentiel pour de nombreuses applications de la science des matériaux.