Occasion JEOL JSM 5800LV #293690652 à vendre en France

JEOL JSM 5800LV Scanning electron microscope (SEM) est un puissant outil d'analyse pour explorer les matériaux du nanomètre au niveau micro-échelle. Dans ce dispositif, un faisceau d'électrons est focalisé sur une petite zone de l'échantillon et est généré par une source d'électrons. Dans JEOL JSM 5800 LV la source d'électrons est un type d'émetteur de champ qui fonctionne en créant d'abord un champ électrique qui attire les électrons de l'émetteur à la surface de l'échantillon. Une fois que cela se produit, les électrons excitent l'échantillon, le faisant émettre des électrons qui se déplacent alors vers le détecteur. JSM 5800LV est équipé d'un détecteur d'électrons rétrodiffuseur (BED) qui permet à l'utilisateur d'obtenir des informations sur l'échantillon en haute résolution. Le BED travaille en détectant des électrons secondaires et des électrons rétrodiffusés, qui contiennent tous deux des informations uniques sur l'échantillon, comme sa topographie de surface et sa composition élémentaire. Les électrons secondaires peuvent être comparés à la lumière émise par une source lumineuse et utilisés pour détecter la structure fine de surface de l'échantillon. JSM 5800LV dispose également d'un équipement optionnel de microanalyse à rayons X dispersive d'énergie (EDX) qui fournit la composition élémentaire de l'échantillon. Ce système fonctionne en recueillant l'énergie des rayons X caractéristiques qui sont créés lorsque les électrons interagissent avec les atomes de l'échantillon. L'unité EDX analyse alors ces énergies et les traduit en une composition élémentaire. JSM 5800 LV Scanning Electron Microscope est également équipé d'une machine à menu facile à utiliser, qui permet aux utilisateurs d'ajuster les paramètres d'imagerie de l'instrument rapidement et facilement. L'utilisateur peut affiner le courant de transmission, l'angle incident du faisceau, la tension et la taille du champ afin de capturer les images les plus détaillées de l'échantillon. Dans l'ensemble, JEOL JSM 5800LV est un excellent microscope électronique à balayage avec une variété de caractéristiques qui en font un outil précieux pour les applications industrielles et universitaires de recherche. Ses capacités d'imagerie avancées, combinées à son outil de menu convivial, en font le choix idéal pour l'imagerie nanométrique.