Occasion JEOL JSM 5800LV #293760985 à vendre en France

Le microscope électronique à balayage JEOL JSM 5800LV (SEM) est un instrument puissant et fiable utilisé pour diverses explorations scientifiques. Il s'agit d'un dispositif performant qui convient à une variété de matériaux tels que polymères, céramiques, métaux et semi-conducteurs. Il est particulièrement bien adapté pour détecter les structures de surface de matériaux à résolution submicronique, voire nanométrique. JEOL JSM 5800 LV est équipé d'une gamme de fonctionnalités et de fonctions pour offrir à l'utilisateur le meilleur niveau de performance. Tout d'abord, il dispose d'un équipement à pression variable pour éviter les dommages des échantillons dus aux électrons interagissant avec l'atmosphère en cours de fonctionnement. Deuxièmement, il dispose d'un système avancé de détection électronique, connu sous le nom d'unité de détection rétrodiffusée (BDS), qui permet une large gamme dynamique allant jusqu'à deux ordres de grandeur. Cette machine permet également l'imagerie numérique de n'importe quel échantillon, en raison de sa sensibilité. Le scanner SEM de JSM 5800LV permet également une facilité de fonctionnement et fournit une excellente résolution d'image. Ses tensions d'accélération du faisceau sont optimisées à 1.5kV et 2.5kV et sa plage de balayage couvre jusqu'à 45kV, avec une résolution maximale de 1.3nm (0.13µm). Son étage est motorisé et dispose d'un porte-échantillon mobile, permettant des mouvements rapides et faciles le long des axes x, y et z. L'outil de spectroscopie dispersive d'énergie (EDS) de JSM 5800 LV permet l'analyse élémentaire des échantillons. Il permet à l'utilisateur de collecter un spectre de l'ensemble de l'échantillon, ainsi que la cartographie ponctuelle. De plus, le dispositif offre une grande variété de corrections d'image destinées à améliorer le contraste, la luminosité et la profondeur d'échantillonnage de l'image. En outre, JSM 5800LV est conçu avec des considérations de sécurité à l'esprit. Son outil de détection des rayons X et son mécanisme de protection ionique alertent l'utilisateur en cas de danger. Son modèle de recyclage évite également que l'échantillon ne soit endommagé non seulement par une haute tension d'accélération, mais aussi par des faisceaux d'électrons très énergétiques. Au total, JEOL JSM 5800LV Scanning Electron Microscope est un outil puissant et fiable pour la recherche d'une variété de matériaux. Il est équipé de multiples caractéristiques pour offrir une grande performance et résolution d'image, ainsi que des caractéristiques de sécurité pour protéger l'échantillon et l'utilisateur contre le rayonnement. Il est particulièrement adapté pour l'imagerie de structures de surface jusqu'au niveau du nanomètre.