Occasion JEOL JSM 5800LV #293776083 à vendre en France

Le microscope électronique à balayage JEOL JSM 5800LV (SEM) est un instrument d'imagerie à haute résolution utilisé pour analyser divers matériaux. Équipé d'une colonne multi-modes et d'un mode à pression variable, ce SEM offre une résolution latérale impressionnante de 1,0nm et une distance de travail optimale de 160mm. Il dispose également d'un grand détecteur d'angle de départ et d'un système d'autotunage en temps réel, permettant des analyses rapides et précises. JEOL JSM 5800 LV est capable d'obtenir des images haute résolution d'échantillons non conducteurs et conducteurs, ainsi que l'imagerie et la mesure de caractéristiques extrêmement fines. Le microscope dispose d'un système d'imagerie numérique intégré qui permet d'augmenter le contraste et le traitement automatisé de l'image. Cette polyvalence fait de JSM 5800LV une option attrayante même pour les applications les plus exigeantes. En termes de manipulation et de préparation des échantillons, le SEM est équipé d'un porte-échantillon standard et de systèmes de vide. L'étape automatisée du SEM aide à changer rapidement entre les différents échantillons. De plus, le microscope comporte un étage de chauffage et un étage de refroidissement, ce qui permet une large gamme d'études de température des échantillons. La gamme de sensibilité de JSM 5800LV offre une flexibilité accrue pour de multiples applications. Il est possible de résoudre jusqu'à 0,5 nm en mode d'imagerie d'électrons secondaires élevés, et encore moins en mode d'imagerie d'électrons secondaires bas et rétrodiffusion. Cela permet de mieux comprendre une variété d'applications telles que l'analyse des défaillances, l'analyse de la taille et de la forme des grains, et bien plus encore. Le logiciel intégré JEOL JSM 5800LV facilite encore son utilisation. Il dispose d'une interface utilisateur intuitive qui aide à accéder à de puissantes fonctions d'acquisition et d'analyse de données. En outre, le logiciel permet également le post-traitement des données, la reconstruction 3D des images, et même la segmentation automatique des images pour mesurer quantitativement les structures au sein de l'échantillon. Dans l'ensemble, JSM 5800 LV est un microscope électronique à balayage impressionnant qui est sûr de répondre aux besoins de toute application. Avec une résolution de 1,0nm et un logiciel facile à utiliser, ce SEM offre des performances exceptionnelles pour une large gamme d'applications.