Occasion JEOL JSM 5800LV #9079565 à vendre en France

JEOL JSM 5800LV est un microscope électronique à balayage haute performance (SEM) capable de fournir l'imagerie détaillée d'une variété d'échantillons. L'instrument utilise des électrons secondaires (SE) produits par le faisceau d'électrons pour créer des images à haute résolution de la surface d'un échantillon. Le canon à électrons haute tension est capable de générer un faisceau d'électrons allant jusqu'à 30kV, et le détecteur est conçu pour représenter les SE dans une plage de 0,5 à 30kV. Le microscope peut être utilisé en mode SEM haute résolution et basse dépression, permettant une large gamme de capacités d'imagerie. La chambre d'échantillonnage est conçue pour accueillir des échantillons de différentes tailles et formes, avec une chambre à vide capable d'atteindre des pressions allant jusqu'à 1,3 x 10-3 Pa. L'étage d'échantillon est conçu avec un moteur d'échantillon pour déplacer le porte-échantillon dans des directions x-y-z, permettant un alignement facile et précis des caractéristiques de l'échantillon. La scène est équipée de capacités de serrage d'échantillons pour réaliser des enregistrements sécurisés des caractéristiques de l'échantillon. JEOL JSM 5800 LV est capable de produire des images d'échantillons à haute résolution. L'équipement d'imagerie utilise une colonne Everhigh Optics avec un déflecteur de 3 étages, permettant d'obtenir des résolutions d'imagerie jusqu'à 1.4nm dans une taille de champ de 1.4mm, et une résolution d'imagerie maximale de 0.9nm dans une taille de champ de 0.4mm. Le système d'imagerie est également équipé d'un mode propriétaire Everhigh « ultra-HR spot », qui utilise une zone d'éclairage étroite pour obtenir des résolutions à haute diffraction limitée. Le microscope est également équipé d'un certain nombre de fonctionnalités avancées, y compris une unité de détection multi-modes, une machine d'analyse automatique, un détecteur à perte de vitesse et un mode d'analyse « couleur ». L'outil de détection multimode est capable d'enregistrer à la fois des spectres SE, des électrons rétrodiffusés (BSE) et des spectres de rayons X, ce qui permet une imagerie et une analyse complètes des caractéristiques des échantillons. Le détecteur Everglow élimine la distorsion d'image due aux perturbations externes, telles que les courants d'air, permettant l'imagerie claire d'échantillons à haute résolution. Enfin, le mode d'analyse « couleur » est capable d'extraire et d'afficher des informations de couleur à partir d'images d'échantillons, ce qui permet de mieux comprendre la structure interne d'un échantillon. En résumé, JSM 5800LV est un microscope électronique à balayage haute performance, capable de fournir une gamme de capacités d'imagerie et d'analyse. La colonne optique Everhigh haute vitesse et le détecteur multimode se combinent pour offrir une imagerie et une analyse des échantillons à très haute résolution, permettant aux chercheurs d'obtenir une vision inégalée de leurs formations. De plus, l'actif de détection multi-modes, le modèle d'analyse automatique et le mode d'analyse couleur permettent l'imagerie détaillée des échantillons jusqu'au niveau atomique.