Occasion JEOL JSM 5800LV #9255669 à vendre en France

JEOL JSM 5800LV est un appareil de microscopie électronique à balayage à haute résolution (SEM) conçu pour divers travaux de recherche scientifique et applications industrielles telles que la microanalyse, l'imagerie et l'analyse des défaillances. Ce SEM a une source d'électrons à canon à émission de champ (FEG), qui génère des images plus rapides et de plus haute résolution que les sources d'électrons à émission thermique traditionnelles. Il a également une longue distance de travail, ce qui lui permet de se concentrer avec précision sur les zones plus éloignées. JEOL JSM 5800 LV offre une imagerie haute résolution, jusqu'à 0,8 nm et des données analytiques haute résolution avec un excellent rapport signal/bruit. Il fournit également un excellent champ de vision, assez grand pour l'observation de grands échantillons. Sa chambre à pression variable permet un fonctionnement à la fois sous vide et sous vide, ce qui la rend adaptée à une variété d'applications. JSM 5800LV a également une vitesse élevée, lui permettant de traiter les images plus rapidement que les autres SEM. Les données sont généralement traitées par une combinaison de plusieurs techniques dont l'imagerie électronique secondaire (IES), l'imagerie électronique rétrodiffusée (IESB) ou la cathodoluminescence (LC). Il est également capable de piquer des images pour des échantillons de plus grande surface. Le système est équipé d'une unité automatisée de navigation et d'alignement qui rend la préparation des échantillons rapide et facile. Cette machine permet également de réduire la contamination des échantillons et de faciliter leur positionnement précis. L'échantillon peut être scanné avec l'outil automatisé d'alignement de navigation, puis le panneau de contrôle manuel de balayage peut être utilisé pour affiner les paramètres de balayage. JSM 5800 LV dispose également d'un actif de vide intégré, qui est capable de maintenir le niveau de vide désiré. En outre, le modèle SEM est également intégré avec une microanalyse à rayons X dispersive d'énergie (EDXA) et un équipement de diffraction par rétrodiffusion d'électrons (EBSD), permettant aux utilisateurs d'analyser en détail la composition matérielle de leurs échantillons. Dans l'ensemble, JSM 5800LV est un microscope électronique à balayage puissant et avancé conçu pour une variété d'applications. Il offre une résolution, une vitesse et des fonctions de navigation et d'alignement exceptionnels. Ses systèmes intégrés de microanalyse à rayons X dispersive d'énergie (EDXA) et de diffraction par rétrodiffusion d'électrons (EBSD) le rendent adapté à l'analyse des matériaux. Il est parfait pour une gamme de recherche et d'applications industrielles et est un outil précieux pour tout laboratoire.