Occasion JEOL JSM 5800LV #9270028 à vendre en France

JEOL JSM 5800LV
ID: 9270028
Scanning Electron Microscope (SEM).
Le microscope électronique à balayage JEOL JSM 5800LV (SEM) est un appareil utilisé pour l'imagerie et l'analyse de matériaux à un niveau de résolution nanométrique. L'instrument utilise les faisceaux d'électrons pour interagir avec la surface de l'échantillon et fournit des informations sur la taille, la porosité et la morphologie du matériau analysé. Le faisceau d'électrons réglable haute résolution de JEOL JSM 5800 LV permet l'imagerie de petites particules et structures avec plus de clarté et de précision qu'un microscope à lumière ne peut fournir. L'instrument est conçu pour fonctionner facilement et offre une gamme de fonctionnalités avancées pour des performances optimales. Sa chambre à vide entièrement réglable permet aux chercheurs de contrôler l'environnement de travail pour la visualisation des échantillons. La chambre à vide permet également de maintenir une résolution optimale dans diverses conditions d'imagerie. De plus, la colonne d'imagerie peut être utilisée pour modifier l'angle du faisceau d'électrons et optimiser les résultats d'imagerie. JSM 5800LV est équipé d'un système de détection EDS haute résolution qui fournit des informations élémentaires précises. Ce détecteur de pointe, combiné à son accélération haute tension et au contrôle de précision du faisceau d'électrons, permet d'obtenir des images de la plus haute qualité des plus petites particules et structures. L'instrument dispose d'une interface opérationnelle avancée qui permet d'assurer la précision et la répétabilité de l'analyse. Il est livré avec une gamme d'options de traitement d'image, avec une variété d'outils de mesure automatisés et des paquets analytiques puissants pour une analyse plus approfondie et l'interprétation des données. En outre, JEOL JSM 5800LV est compatible avec une gamme de logiciels de traitement d'image tiers. Le microscope électronique à balayage JSM 5800LV est un puissant outil d'imagerie et d'analyse de matériaux à l'échelle nanométrique. Son faisceau d'électrons réglables, son système de détection électronique avancé et ses nombreuses options de traitement d'images le rendent apte à capturer des images de haute qualité des plus petites particules et structures en recherche. L'appareil fournit des résultats fiables et un excellent rapport qualité-prix pour les établissements d'enseignement et de recherche.
Il n'y a pas encore de critiques