Occasion JEOL JSM 5900 #9102873 à vendre en France

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ID: 9102873
Scanning electron microscope (SEM) Tungsten source Detection modes: secondary, backscatter Chamberscope Resolution: 3nm @ 30kV (Se mode), 5nm @30kV (BSE mode) 5-Axis stage Operating system: Windows 98.
JEOL JSM 5900 est un microscope électronique à balayage avancé (SEM) conçu pour l'imagerie haute résolution et la mesure d'une variété d'échantillons. Il utilise un canon à électrons à filament de tungstène, ainsi qu'un canon à émission de champ, pour un excellent grossissement de sonde électronique. Sa conception lui permet également de prendre des images dans de multiples canaux d'information à haute résolution. JEOL JSM-5900 dispose d'une grande distance de travail de 5 000 mm, permettant d'analyser et d'analyser de grands échantillons avec un large champ de vision. Il supporte une plage de grossissement de 0,7 nanomètre à 30 mm, et est également capable d'effectuer une imagerie tridimensionnelle et une analyse quantitative. De plus, ses systèmes vidéo et d'imagerie électronique secondaire améliorent considérablement les détails et la résolution de l'imagerie. Les détecteurs haute performance du JSM 5900 permettent de collecter simultanément des électrons secondaires et rétrodiffusés. Ceci fournit un détail topographique supérieur de l'échantillon. Il dispose également d'une gamme de détecteurs, tels que des tubes photomultiplicateurs (PMT), des multiplicateurs d'électrons à canaux (CEM) et des systèmes de dispersion d'énergie (EDX) qui facilitent les analyses détaillées de la composition chimique des échantillons. JSM-5900 est également équipé de JEOL Observation Control Tool (JOCT), qui fournit une interface facile à utiliser pour les opérations SEM avancées. Il permet la collecte d'un grand nombre de canaux d'imagerie, ainsi que le traitement et l'analyse des images et des spectres du système EDX/WDS. De plus, le système est équipé de capacités d'automatisation telles que l'alignement automatique et la mesure de l'épaisseur des échantillons. Dans l'ensemble, JEOL JSM 5900 est un puissant microscope électronique à balayage qui fournit des capacités d'imagerie et d'analyse optimales. Son interface JOCT conviviale simplifie le fonctionnement de l'appareil, tandis que ses multiples détecteurs et fonctions automatisées en font le choix optimal pour les besoins d'imagerie de haute résolution et avancée du laboratoire.
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