Occasion JEOL JSM 5900LV #293600373 à vendre en France

ID: 293600373
Style Vintage: 1999
Scanning Electron Microscope (SEM) PGT Avalon EDS system XPJ081-1038 Detector AVALON PGT Controller 1999 vintage.
JEOL JSM 5900LV est un microscope électronique à balayage de qualité industrielle conçu avec une optique électronique de pointe et une technologie d'imagerie sophistiquée. Ses performances élevées, sa polyvalence et ses capacités de balayage complètes le rendent idéal pour la caractérisation des matériaux et l'imagerie à des résolutions nanométriques. JEOL JSM-5900LV utilise une colonne électronique à pression variable pour obtenir la plus haute résolution d'image et contraste sur une grande variété d'échantillons, y compris les matériaux non conducteurs et les métaux. Une lentille de canon avancée contrôle la diffusion d'électrons et aide à minimiser les formes de faisceaux artefacts. Cela permet au microscope de délivrer des images bidimensionnelles claires et à haute résolution d'objets scannés dans n'importe quelle orientation. JSM 5900 LV dispose également d'un détecteur de cathodoluminescence avancé, qui détecte l'émission de lumière visible et infrarouge pendant le balayage. Cette capacité offre une sensibilité, une résolution et une portée de détection supérieures, permettant à l'utilisateur d'identifier facilement des réponses électromagnétiques subtiles à partir de divers matériaux, aidant l'utilisateur à déterminer sa composition. JSM 5900LV a également des capacités de spectrométrie dispersive à énergie réglable (EDS), qui permettent d'identifier et d'analyser rapidement différents éléments d'un échantillon. Cet outil puissant permet également une imagerie filtrée par l'énergie, ainsi qu'une imagerie analytique, pour évaluer avec précision la composition du matériau. Des options d'imagerie confocale sont également disponibles avec JEOL JSM 5900 LV, permettant d'utiliser divers types de sources de fluorescence, de détecteurs et de techniques. Enfin, le microscope est bien équipé avec un module d'automatisation et une large gamme d'autres fonctionnalités qui augmentent encore les capacités d'analyse de l'utilisateur. En résumé, JSM-5900LV est un microscope idéal pour la caractérisation et l'imagerie des matériaux. Sa combinaison d'une optique électronique avancée et d'une technologie d'imagerie sophistiquée permet d'obtenir la résolution et le contraste les plus élevés, tandis que ses capacités EDS et confocales fournissent des données précieuses à l'utilisateur. Le module d'automatisation de JEOL JSM 5900LV et le tableau d'autres fonctionnalités mises à jour n'ajoutent qu'à sa puissance et à sa commodité.
Il n'y a pas encore de critiques