Occasion JEOL JSM 5900LV #293665576 à vendre en France

JEOL JSM 5900LV est un microscope électronique à balayage (SEM) utilisé pour l'imagerie de surfaces et d'autres caractéristiques microscopiques avec une haute précision et résolution. Il fonctionne en utilisant un faisceau focalisé d'électrons pour balayer la surface d'un échantillon afin de générer une image. Le faisceau d'électrons dans JEOL JSM-5900LV est généré à travers un filament de tungstène chauffé par un canon à électrons puis focalisé à l'aide de lentilles électrostatiques. Les électrons sont ensuite accélérés à un niveau d'énergie élevé et dirigés vers l'échantillon sous un angle. Lorsque le faisceau balaie la surface de l'échantillon, les électrons interagissent avec le matériau et provoquent la libération d'une cascade d'électrons secondaires. Ces électrons sont ensuite collectés et détectés, et le signal résultant est utilisé pour générer une image de la surface de l'échantillon. JSM 5900 LV est capable de fournir des images haute résolution et est très efficace pour collecter des données relatives à la topographie, la composition élémentaire et les défauts de l'échantillon. Il dispose également d'un grand champ de vision pouvant atteindre 50 mm, permettant l'imagerie de grandes zones d'échantillonnage. JEOL JSM 5900 LV a également une grande profondeur de champ, lui permettant d'acquérir des images de fonctionnalités à des profondeurs variables avec un seul balayage. Ceci est rendu possible par l'utilisation d'un foyer réglable et d'un détecteur d'électrons secondaire. Le JSM 5900LV comprend également un équipement de balayage à basse dépression de pointe qui est capable d'imiter des échantillons sans avoir besoin d'un revêtement supplémentaire. Ceci garantit que les données obtenues sont de la plus haute qualité et exemptes d'artefacts causés par les matériaux de revêtement. Le système à vide réduit également les dommages dus à l'exposition aux électrons, ce qui le rend adapté à l'imagerie d'échantillons délicats. L'instrument comprend une unité de compensation automatique de focalisation qui ajuste la focalisation pour différentes profondeurs de champ et une machine automatique de capture d'image qui stocke des images sur une carte mémoire numérique. L'instrument comprend également un outil intégré de manipulation de l'échantillon qui permet un positionnement précis de l'échantillon et une console de commande qui permet le contrôle de l'instrument à distance. Pour garantir une performance optimale, JSM-5900LV est équipé d'un ensemble de logiciels puissants qui peuvent être utilisés pour l'acquisition d'images, le traitement d'images, l'analyse et le stockage de données. Le logiciel peut être personnalisé pour répondre aux besoins de l'utilisateur et comprend des fonctionnalités telles que le piquage d'image, le profilage de ligne et l'analyse granulométrique. En conclusion, JEOL JSM 5900LV est un microscope électronique à balayage puissant et polyvalent capable de fournir des images à haute résolution de surfaces et d'autres caractéristiques avec une grande précision et efficacité. L'actif de balayage à basse dépression intégré, les progiciels de pointe et le modèle automatisé de compensation des foyers et de capture d'image en font un choix idéal pour une gamme d'applications d'imagerie et d'analyse d'échantillons.