Occasion JEOL JSM 5900LV #293743791 à vendre en France

Le microscope électronique à balayage JEOL JSM 5900LV (SEM) est un outil d'imagerie polyvalent pour l'imagerie haute résolution et 3D et les applications analytiques. Il est particulièrement bien adapté pour les semi-conducteurs nanométriques, caractérisant les défauts/caractéristiques et analysant les couches minces. Le dispositif est connu pour être convivial et facile à utiliser, même pour les opérateurs moins expérimentés, tout en offrant d'excellentes performances. JEOL JSM-5900LV dispose d'un environnement de pression variable, permettant à l'utilisateur d'appliquer une gamme de pressions pour différents types d'applications. Cet environnement de pression réglable permet au microscope de fonctionner en mode ultra-haute dépression (UHV) ou basse dépression (LV). Le mode UHV est le mieux utilisé pour les semi-conducteurs et autres applications nécessitant des grossissements élevés. Le mode LV peut être utilisé pour observer des échantillons non conducteurs, tels que des échantillons biologiques et des matériaux organiques. La principale technique d'imagerie offerte par le SEM est l'imagerie électronique secondaire (SE), qui est utilisée pour créer des images topographiques pour des observations de morphologie. Avec le détecteur SE haute résolution du SEM, il peut atteindre jusqu'à une résolution de 500x106 pixels/µm2. Il est également capable de reconstruire des images 3D avec des « gaufres », qui permettent l'imagerie d'échantillons dans un temps d'acquisition plus court que l'imagerie rétrodiffusée (ESB). JSM 5900 LV est également très polyvalent pour la microanalyse semi-quantitative des rayons X avec son détecteur à rayons X de grande surface, qui peut être utilisé pour mesurer une large gamme de concentrations d'éléments ou d'énergies de pointe. Le SEM facilite également une cartographie intégrée automatisée avec son logiciel Advantage S, qui permet à l'utilisateur de générer des cartes compositionnelles ou d'éléments en quelques minutes. De plus, JSM-5900LV assure l'imagerie et la caractérisation simultanées avec différents détecteurs. Avec son détecteur Everhart-Thornley (ET), le microscope peut capturer des images d'électrons rétrodiffusés (ESB), d'électrons Auger et de rayons X secondaires (SXe) simultanément. Cette caractéristique rend le SEM bénéfique pour divers matériaux, tels que les échantillons conducteurs, semi-conducteurs et isolants. Pour conclure, JEOL JSM 5900 LV microscope électronique à balayage est un excellent choix pour une variété d'applications d'imagerie et de caractérisation. Il s'agit d'un appareil polyvalent et convivial qui offre une imagerie haute résolution, une capacité de reconstruction 3D- et une cartographie automatisée des rayons X. Ses différents détecteurs ainsi que ses réglages de pression réglables permettent à l'utilisateur d'analyser un large éventail de matériaux, des semi-conducteurs aux échantillons biologiques.