Occasion JEOL JSM 5900LV #9123096 à vendre en France

JEOL JSM 5900LV est un microscope électronique à balayage de qualité industrielle (SEM) reconnu pour sa polyvalence et ses performances. Il utilise une colonne dédiée et des capacités d'imagerie de haut détail pour produire des images haute résolution et l'analyse des surfaces jusqu'à l'échelle nanométrique. Grâce aux capacités avancées de JEOL JSM-5900LV, les utilisateurs peuvent réaliser une gamme de techniques d'imagerie, y compris l'imagerie par réflectance, l'imagerie par rétrodiffusion d'électrons (ESB), l'imagerie par électrons secondaires (SE) et l'imagerie spécifique à la composition. Le JSM 5900 LV est équipé d'une chambre à vide ultra haute, d'un étage à quatre axes et d'un alignement automatique, ce qui en fait un excellent choix pour diverses applications, y compris l'analyse des matériaux, l'analyse des défaillances, la recherche de circuits et le contrôle des processus. Les capacités d'imagerie du JSM-5900LV sont remarquables. Grâce à la combinaison des grandissements de champ et optiques, la résolution peut facilement atteindre jusqu'à 200 nanomètres (nm) pour l'imagerie SE, et aller jusqu'à 400 nm de résolution dans l'imagerie ESB. La fonction innovante « auto backscatter imaging » permet aux utilisateurs de capturer des images avec un grand contraste et fidélité. Il dispose également d'une capacité unique « voxel imaging », qui acquiert jusqu'à trois images simultanément sous différents angles. Cela permet aux utilisateurs de construire des modèles tridimensionnels rapidement et avec précision. JEOL JSM 5900 LV dispose également d'un mode « pression variable », qui permet aux chercheurs d'étudier des matériaux avec plus de profondeur en scannant des échantillons tout en contrôlant l'atmosphère dans la chambre. Ce mode élimine la nécessité d'une isolation environnementale supplémentaire et permet aux chercheurs d'analyser des échantillons dans leur propre environnement unique. Les capacités d'analyse avancées de JSM 5900LV en font un outil puissant pour étudier des échantillons à l'échelle nanométrique. Il offre une interface de traitement d'image haute vitesse (HIPI) avec une interface utilisateur intuitive à écran tactile, permettant aux utilisateurs d'analyser rapidement et avec précision des échantillons avec une courbe d'apprentissage minimale. JEOL JSM 5900LV comprend également des logiciels d'analyse chimique, d'analyse granulométrique, d'analyse de structure cristalline, de tomographie 3D et de micrographie numérique. Le design polyvalent et robuste de JEOL JSM-5900LV en fait un choix idéal pour les laboratoires engagés dans la recherche et le développement. La combinaison de ses capacités d'imagerie haute résolution et d'analyse avancée en font l'instrument parfait pour explorer des systèmes et des structures complexes jusqu'à l'échelle nanométrique. En bref, JSM 5900 LV est l'outil parfait pour les professionnels de laboratoire à la recherche d'un microscope électronique à balayage fiable, polyvalent et puissant.