Occasion JEOL JSM 5900LV #9230474 à vendre en France
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ID: 9230474
Style Vintage: 1999
Scanning Electron Microscope (SEM)
EDX System
LINK ISIS Spectrometer 0738
7274 Detector
ATW2, 133ev, 10mm
Computer
Below the lens BSE detector
Requires LN
Cannot be converted to SDD type that does not use LN
Diffusion pump
Tungsten based system: 1 to 25 kV operating range
Objective aperture strip: 3, 20, 30, 100 um
Take off angle value: TA 35
Image detector ports: (2) Vacant ports plus the EDX
Maximum SEM resolution: 2560 x 1920
EDX resolution: 133 ev, ~1024 Pixel image resolution
No film camera
Circular port diameter: 120 mm
Optical resolution: 3.5 nm
Calibration of the gun bias is electronic
(2) PC's
(2) LCD's
(2) RP's
Transformer 100 V
Spectrometer box (same size as a PC)
Manuals
No printer
Ranges:
WD 5-40 (Limited by the under the lens BSE detector)
X and Y: Currently using 4" x 5" holder
Tilt: 90, Z: 48, X: -75 to 50mm, Y: -50 to 50 mm
1999 vintage.
JEOL JSM 5900LV est un microscope électronique à balayage (SEM) conçu pour offrir des capacités d'imagerie de haut niveau avec une résolution et une vitesse optimales. Il dispose d'un porte-échantillons ultra-rapide et de grande envergure, avec une plage de grossissement de 5x à 50000x, permettant une large gamme d'applications de recherche industrielle, biologique et géologique. L'instrument est équipé des dernières technologies optiques électroniques, avec un niveau incroyable de stabilité et de précision. Ses détecteurs de réflectance et son imagerie numérique permettent une visualisation détaillée des structures ultrafines et des nanostructures avec une résolution inférieure à 1nm. Ce microscope est activé avec un système de balayage multi-champs qui permet à l'utilisateur de capturer plusieurs images à la fois tout en conservant la même qualité d'image. En outre, JEOL JSM-5900LV SEM présente aussi un vide bas la chambre de l'environnement, qui préserve la surface d'échantillons fins pendant le processus reflétant. L'instrument est léger et compact et offre les mêmes performances que les grands modèles. Il dispose d'un système de contrôle convivial, qui permet à l'opérateur de naviguer et d'ajuster sans difficulté les paramètres d'imagerie des semi-conducteurs. Il s'agit notamment de régler l'angle du faisceau d'électrons, d'éclairer l'échantillon à différents angles et de régler les tensions de déflexion et d'accélération. Le JSM 5900 LV SEM est également compatible avec un large éventail de détecteurs et d'accessoires de scène. Il s'agit notamment d'un détecteur d'électrons rétrodiffusés, d'un détecteur de rayons X dispersifs d'énergie, d'un détecteur d'électrons réfléchis, d'un détecteur de sonde de surface et d'un porte-échantillon réglable. Ces accessoires peuvent être échangés rapidement pour augmenter les capacités d'analyse. JSM 5900LV est un microscope électronique à balayage puissant et fiable offrant une qualité d'image supérieure et une résolution au niveau atomique. Son optique électronique avancée et sa chambre basse dépression le rendent parfait pour une variété d'applications de recherche et il convient à un large éventail d'utilisateurs. Avec un design ergonomique, une interface conviviale et des accessoires personnalisables, le SEM est idéal pour les chercheurs dans les domaines de la biomédecine, de la science des matériaux, de la nanotechnologie et d'autres domaines scientifiques.
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