Occasion JEOL JSM 5910LV #9314370 à vendre en France

JEOL JSM 5910LV est un microscope électronique à balayage (SEM) conçu pour une large gamme d'applications. Il a la plus haute résolution et la plus grande capacité de grossissement de n'importe quelle colonne SEM dans sa classe. JSM 5910LV utilise un détecteur d'électrons secondaire dans la lentille, qui est incorporé dans la colonne optique d'électrons de l'unité. Cette fonction permet des réglages de tension rapides et précis pour garantir des conditions d'imagerie optimales. Le microscope est également équipé d'un détecteur d'électrons secondaire et d'un détecteur de canaux, permettant l'imagerie à haute résolution d'échantillons non conducteurs. Le microscope dispose d'un système de refroidissement de pointe qui maintient le vide et fournit le refroidissement nécessaire pour améliorer la qualité et la stabilité de l'image. En outre, l'unité dispose d'un système avancé de pompe à vide avec une fonction en boucle étroite qui surveille et maintient le niveau de vide pour un fonctionnement fiable. JEOL JSM 5910LV a un angle de déflexion maximal de 168 mm du canon à électrons offrant un degré plus élevé de précision et de précision dans le système d'imagerie SEM. De plus, l'étage polyvalent de l'unité peut être utilisé pour la navigation bidimensionnelle (X-Y) et tridimensionnelle (Z), ce qui permet un alignement et un mouvement précis de l'échantillon. Il est possible de déplacer les spécimens horizontalement jusqu'à 150 mm et verticalement jusqu'à 100 mm afin d'obtenir des images de la zone souhaitée. Le microscope comprend également un détecteur EDX (Energy Dispersive X-Ray Spectrometer) de haute luminosité qui permet une analyse plus rapide des éléments des échantillons à des grossissements plus élevés. En outre, une fonction de mise au point fine peut ajuster progressivement la résolution et la qualité de l'image. Enfin, JSM 5910LV comprend un logiciel intégré appelé JEMWARE, qui permet aux utilisateurs de contrôler leurs opérations au microscope à partir d'une interface PC. Ce paquet peut être utilisé pour ajuster des paramètres tels que l'agrandissement, la mise au point et le contraste, ainsi que pour analyser et mesurer des images scannées. En résumé, JEOL JSM 5910LV est un puissant microscope électronique à balayage avec une large gamme de fonctionnalités et de composants de conception avancée qui le rendent adapté à de nombreuses applications SEM différentes. Il comprend, entre autres, un détecteur électronique secondaire à lentilles, un détecteur EDX, un étage polyvalent pour la navigation et un logiciel intégré. Le microscope fournit une imagerie haute résolution avec une grande stabilité, ce qui en fait un excellent choix pour ceux qui ont besoin d'une imagerie SEM précise et fiable.