Occasion JEOL JSM 5910 #9362883 à vendre en France

JEOL JSM 5910 est un microscope électronique à balayage avancé (SEM). Ce dispositif est spécialement conçu pour l'imagerie détaillée de surfaces d'échantillons à des grossissements très élevés dans des conditions de vide élevé. Il utilise une source d'électrons à filament de tungstène pour permettre l'utilisation à la fois d'un détecteur d'électrons secondaire (SED) et d'un détecteur d'électrons rétrodiffuseur (BSD). Le SEM est équipé d'une chambre à pression variable spécialement conçue pour l'imagerie sous vide, qui permet l'imagerie de matériaux délicats et non conducteurs. Il abrite un étage d'échantillon de précision à 5 axes qui permet le balayage incliné et permet le positionnement en rotation et en translation de l'échantillon par 12 mm de course. Cette étape permet également un balayage automatisé des zones et des lignes. La source d'électrons JSM 5910 est capable de générer des faisceaux avec des énergies jusqu'à 30kV et des courants réglables jusqu'à 8µA. Le diamètre du faisceau sur l'échantillon peut être aussi petit que 10nm. Le système est équipé d'un système de détection et d'alignement du canon à lentille qui permet un alignement rapide du canon à électrons par rapport à l'échantillon. Ce SEM est également équipé d'une variété de détecteurs, y compris un détecteur SE, un détecteur BS, un détecteur ESB, un détecteur SE à double couche dorée et un détecteur à rayons X dispersifs à longueur d'onde super conductrice. Ces détecteurs permettent divers modes d'imagerie, y compris l'imagerie rétrodiffusée, l'imagerie topographique, la microanalyse par faisceau conventionnel et la spectroscopie EDX (Energy Dispersive X). JEOL JSM 5910 est exploité avec un logiciel compatible avec Windows qui assure le contrôle complet des fonctions du SEM. Ce logiciel comprend une section de traitement d'image pour l'amélioration d'image avant ou après l'acquisition d'image. JSM 5910 est un outil puissant et polyvalent pour l'imagerie haute résolution et l'analyse de composition élémentaire d'une variété de matériaux. Avec ses optiques électroniques avancées, ses détecteurs et son logiciel complet, JEOL JSM 5910 est le choix idéal pour l'imagerie et l'analyse de diverses surfaces.