Occasion JEOL JSM 5910LV #9203901 à vendre en France

JEOL JSM 5910LV est un microscope électronique à balayage (SEM) capable d'imagerie haute résolution de spécimens dont la taille maximale du champ peut atteindre 220mm (8,6 pouces). Il s'agit d'un SEM polyvalent qui utilise l'imagerie électronique secondaire et rétrodiffusée (SEI et BSEI) pour diverses applications, telles que l'analyse des défaillances des semi-conducteurs, l'inspection des dispositifs microélectroniques, la recherche scientifique biologique et matérielle et diverses autres tâches d'imagerie et d'analyse. JSM 5910LV est équipé d'un grand détecteur de champ circulaire qui peut détecter jusqu'à 1.4nm, ce qui permet une excellente résolution, contraste et détail lors de l'imagerie des échantillons. Il vient aussi avec un intégré 15kV le fusil d'émission du gaz et de terrain, qui fournit l'éclat de rayon amélioré et la stabilité comparée aux fusils d'émission thermaux traditionnels. De plus, JEOL JSM 5910LV dispose d'une conception à double colonne avec un système de mouvement d'échantillon en 3 dimensions, permettant d'améliorer la résolution, la profondeur de champ et le positionnement à l'échelle fine de l'échantillon pour l'imagerie. En termes de contraste d'image, JSM 5910LV utilise à la fois l'imagerie électronique secondaire et l'imagerie électronique rétrodiffusée (SEI/BSEI) pour obtenir les images les plus précises et détaillées d'un échantillon. En utilisant à la fois le SEI et le BSEI, l'utilisateur peut identifier la composition et la structure de l'échantillon et distinguer les matériaux de différentes compositions et densités. De plus, les images de contraste élevé obtenues par le SEM permettent des mesures précises et l'analyse des caractéristiques des échantillons, faisant de JEOL JSM 5910LV un excellent choix pour l'imagerie de base et les applications de recherche avancées. JSM 5910LV est également livré avec une variété d'outils d'analyse avancés, comme un EDS (Energy Dispersive Spectrometer) qui est utilisé pour l'analyse élémentaire, et un EDXRF (Energy Dispersive X-Ray Fluorescence), qui est utilisé pour acquérir des images quantitatives de composition élémentaire. En outre, JEOL JSM 5910LV dispose d'un étage automatisé intégré qui peut facilement être utilisé pour l'image de plus grands spécimens ou de plusieurs spécimens en séquence. Le stade avancé peut également être utilisé pour diverses autres tâches, telles que l'imagerie par point, l'automatisation de l'acquisition de données et l'analyse. Dans l'ensemble, JSM 5910LV est un puissant microscope électronique à balayage polyvalent capable d'effectuer une variété de tâches d'imagerie et d'analyse avec une excellente résolution et un contraste d'image. Il est idéal pour des applications telles que l'analyse des défaillances, l'inspection des semi-conducteurs, la recherche biologique et la recherche scientifique sur les matériaux. Avec son stade avancé et ses outils d'analyse intégrés, JEOL JSM 5910LV permet une imagerie précise et détaillée des échantillons et offre de nombreuses possibilités de recherche avancée.