Occasion JEOL JSM-6000 #9135789 à vendre en France

JEOL JSM-6000 est un microscope électronique à balayage avancé (SEM) conçu pour l'imagerie haute résolution et l'analyse de surfaces avec une véritable cartographie élémentaire des couleurs. Utilisant la dernière technologie JEOL, cet équipement offre une résolution de 1.2nm et la capacité de visualiser et d'analyser des échantillons sans préparation d'échantillon. Le SEM accélère les électrons à haute énergie afin de générer un faisceau d'imagerie d'électrons. Les électrons entrants interagissent avec les caractéristiques de surface des échantillons, ce qui entraîne des émissions caractéristiques des électrons secondaires et rétrodiffusés ainsi que des rayons X. Ces données sont ensuite collectées par les systèmes de détection électronique et mécanique les plus modernes de JSM-6000. Le SEM comprend un faisceau d'électrons à commande numérique qui balaye la surface de l'échantillon jusqu'à 6,2 mm/s. Cela permet au système de capturer des images et des spectres à haute résolution à la fois faible et haut grossissement de 0.2x à 75.000x. Il propose également un large éventail de techniques d'imagerie pour caractériser la morphologie de surface, la composition élémentaire d'un échantillon et la microstructure. JEOL JSM-6000 offre une puissance d'acquisition à grande vitesse grâce à son modèle de caméra CCD ultra rapide et 16 bits ALPHA-E (Advanced Logarithmic Pixel Histogram Analysis Ergonomique). Il comprend également un filtre à large surface d'énergie colorée et un analyseur d'atomprobe pour la cartographie élémentaire. La fonction intégrée « Vignettes virtuelles » permet de créer jusqu'à quatre vignettes de la zone étudiée du spécimen. En outre, JSM-6000 dispose d'un détecteur EDS (Energy Dispersive Spectroscopy) pour permettre à l'utilisateur d'analyser la composition de l'échantillon et d'identifier les minéraux et autres constituants sur une surface d'échantillon. Cela le rend idéal pour détecter les défauts de surface et d'autres caractéristiques, ainsi que pour identifier les puits de gravure, la corrosion ou les flocons. De plus, le goniomètre double axe intégré permet des corrections d'angle et des mouvements entre 30 et 90 degrés le long des deux axes. JEOL JSM-6000 fournit à l'utilisateur une machine avancée pour mesurer et déterminer les propriétés physiques et chimiques des surfaces. Il offre des images et des spectres haute résolution, une acquisition rapide de données et des vignettes virtuelles pour une référence facile. Cela en fait un choix idéal pour la recherche et les applications industrielles.