Occasion JEOL JSM 6010 Plus/LA #9284891 à vendre en France

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ID: 9284891
Scanning Electron Microscope (SEM) Main breaker: 15 AT. MP-60110LAB ULVAC G-100DB Vacuum pump Ultimate press: 6.7 x 10^-2 PA Oil capacity: 800 ml AETFL64PHOO1 Vacuum pump motor Power supply: 100 V, 50/60 Hz Pumping speed: 50 Hz 100 l/min 60 Hz 120 l/min Capacitor: Start rating: 51, 250 µF Running: 32 µF Capacitor motor thermal: 1 Phase JEC-2137 IP44 1C411 6203 / 6202 Bearing PSE IME: R/MIN: 1450, 4 Pole, 60 Hz, 100 V, 5.3 A R/MIN: 1745 X69001 Power supply: 0.4 kW, 50 Hz, 100 V, 6.1 A ULVAC OMT-100A Oil mist trap Maximum flow rate: 120 l/min MP-01060MS Tilt limitation table X/Y-Axis Z Holder: 10 mm, 32 mm, 76 mm 8 mm: 10 mm: 0-20 deg 32 mm: 0-20 deg 76 mm: 0-20 deg 10 mm: 10 mm: -2-30 deg 32 mm: -2-30 deg 76 mm: 0-20 deg 15 mm: 10 mm: -10-35 deg 32 mm: -10-35 deg 76 mm: -2-35 deg 20 mm: 10 mm. -10-35 deg 32 mm. -10-35 deg 76 mm. -10-35 deg Dial reading: -10° - 90° X-Ray microanalysis P13333B-NAV Camera DELL Optiplex 7010 CPU Tower With PXL2230MW Planar Monitor P/N: 997-7039-00 DELL KB212-2 CN-04G481-71616 43B-006U-A00 DP/ N 04G481 Keyboard DELL D PPID-CN-09RRC7-48729-45L-09FU Mouse Accessories and manuals Power supply: 100-240 V, 60/50 Hz, 0.7 A Power supply: 100 V, 12 A, 1.2 kVA, 1 Phase, 50/60 Hz.
JEOL JSM 6010 Plus/LA est un microscope électronique à balayage polyvalent (SEM) pour des applications industrielles et de laboratoire. Le SEM fonctionne avec un canon à émission de champ de qualité supérieure (FEG) comme source d'électrons pour produire des images haute résolution à des grossissements compris entre x10 et x600.000, avec une plage de grossissement de x500 à x150.000. La chambre de travail est équipée d'une gamme d'équipements auxiliaires comprenant un étage d'échantillons motorisé 6 axes permettant la manipulation d'échantillons sous vide pour mesurer, inspecter et analyser une variété de matériaux. Le faisceau d'électrons à balayage JSM 6010 Plus/LA fonctionne en balayant rapidement une surface d'échantillon et en recueillant des électrons secondaires, qui sont ensuite convertis en un écran numérique de haute qualité. Des caractéristiques telles que le réglage continu de la taille du spot électronique, le courant réglable, la stigmatisation et la tension, sont combinées avec la performance basse tension de la FEG et des faisceaux énergétiques élevés pour améliorer les capacités d'imagerie SEM. Le JSM 6010 Plus/LA utilise un large éventail de détecteurs et détecteurs s'adapte, permettant à l'utilisateur de modifier les paramètres d'imagerie pour une gamme de techniques d'imagerie. Un détecteur d'électrons secondaire (SED) fournit une image d'engrossement d'électrons secondaires qui est capable de distinguer différents types de matériaux. Un détecteur analytique, tel que le système de spectroscopie dispersive d'énergie (EDS) ou le système de spectroscopie dispersive de longueur d'onde (WDS), peut être adapté pour permettre des mesures de rayons X dispersives d'énergie et une analyse élémentaire. Le JSM 6010 Plus/LA abrite également un système de pulvérisation, qui permet une analyse plus approfondie des échantillons extrêmement fragiles, fournissant une mine d'informations sur la composition chimique de l'échantillon. En outre, le JSM 6010 Plus/LA offre à l'utilisateur plusieurs options de manipulation d'image et la possibilité d'exporter les données dans différents formats de fichiers. Différentes images et composites peuvent être créés et les données peuvent être utilisées pour générer des images 3D. Le JSM 6010 Plus/LA, grâce à sa large gamme de fonctionnalités, à sa faible puissance requise, à son alignement automatique et à son logiciel de contrôle stable, offre des performances supérieures pour un large éventail d'applications industrielles et de laboratoire avec un niveau de contrôle, une précision et une vitesse inégalées.
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