Occasion JEOL JSM 6010 Plus/LA #9284891 à vendre en France
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Vendu
ID: 9284891
Scanning Electron Microscope (SEM)
Main breaker: 15 AT. MP-60110LAB
ULVAC G-100DB Vacuum pump
Ultimate press: 6.7 x 10^-2 PA
Oil capacity: 800 ml
AETFL64PHOO1 Vacuum pump motor
Power supply: 100 V, 50/60 Hz
Pumping speed:
50 Hz 100 l/min
60 Hz 120 l/min
Capacitor:
Start rating: 51, 250 µF
Running: 32 µF
Capacitor motor thermal: 1 Phase
JEC-2137
IP44
1C411
6203 / 6202 Bearing
PSE IME:
R/MIN: 1450, 4 Pole, 60 Hz, 100 V, 5.3 A
R/MIN: 1745 X69001
Power supply: 0.4 kW, 50 Hz, 100 V, 6.1 A
ULVAC OMT-100A Oil mist trap
Maximum flow rate: 120 l/min
MP-01060MS Tilt limitation table
X/Y-Axis Z Holder: 10 mm, 32 mm, 76 mm
8 mm:
10 mm: 0-20 deg
32 mm: 0-20 deg
76 mm: 0-20 deg
10 mm:
10 mm: -2-30 deg
32 mm: -2-30 deg
76 mm: 0-20 deg
15 mm:
10 mm: -10-35 deg
32 mm: -10-35 deg
76 mm: -2-35 deg
20 mm:
10 mm. -10-35 deg
32 mm. -10-35 deg
76 mm. -10-35 deg
Dial reading: -10° - 90°
X-Ray microanalysis
P13333B-NAV Camera
DELL Optiplex 7010
CPU Tower
With PXL2230MW Planar
Monitor
P/N: 997-7039-00
DELL KB212-2 CN-04G481-71616 43B-006U-A00 DP/ N 04G481 Keyboard
DELL D PPID-CN-09RRC7-48729-45L-09FU Mouse
Accessories and manuals
Power supply: 100-240 V, 60/50 Hz, 0.7 A
Power supply: 100 V, 12 A, 1.2 kVA, 1 Phase, 50/60 Hz.
JEOL JSM 6010 Plus/LA est un microscope électronique à balayage polyvalent (SEM) pour des applications industrielles et de laboratoire. Le SEM fonctionne avec un canon à émission de champ de qualité supérieure (FEG) comme source d'électrons pour produire des images haute résolution à des grossissements compris entre x10 et x600.000, avec une plage de grossissement de x500 à x150.000. La chambre de travail est équipée d'une gamme d'équipements auxiliaires comprenant un étage d'échantillons motorisé 6 axes permettant la manipulation d'échantillons sous vide pour mesurer, inspecter et analyser une variété de matériaux. Le faisceau d'électrons à balayage JSM 6010 Plus/LA fonctionne en balayant rapidement une surface d'échantillon et en recueillant des électrons secondaires, qui sont ensuite convertis en un écran numérique de haute qualité. Des caractéristiques telles que le réglage continu de la taille du spot électronique, le courant réglable, la stigmatisation et la tension, sont combinées avec la performance basse tension de la FEG et des faisceaux énergétiques élevés pour améliorer les capacités d'imagerie SEM. Le JSM 6010 Plus/LA utilise un large éventail de détecteurs et détecteurs s'adapte, permettant à l'utilisateur de modifier les paramètres d'imagerie pour une gamme de techniques d'imagerie. Un détecteur d'électrons secondaire (SED) fournit une image d'engrossement d'électrons secondaires qui est capable de distinguer différents types de matériaux. Un détecteur analytique, tel que le système de spectroscopie dispersive d'énergie (EDS) ou le système de spectroscopie dispersive de longueur d'onde (WDS), peut être adapté pour permettre des mesures de rayons X dispersives d'énergie et une analyse élémentaire. Le JSM 6010 Plus/LA abrite également un système de pulvérisation, qui permet une analyse plus approfondie des échantillons extrêmement fragiles, fournissant une mine d'informations sur la composition chimique de l'échantillon. En outre, le JSM 6010 Plus/LA offre à l'utilisateur plusieurs options de manipulation d'image et la possibilité d'exporter les données dans différents formats de fichiers. Différentes images et composites peuvent être créés et les données peuvent être utilisées pour générer des images 3D. Le JSM 6010 Plus/LA, grâce à sa large gamme de fonctionnalités, à sa faible puissance requise, à son alignement automatique et à son logiciel de contrôle stable, offre des performances supérieures pour un large éventail d'applications industrielles et de laboratoire avec un niveau de contrôle, une précision et une vitesse inégalées.
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