Occasion JEOL JSM 6010 Plus/LA #9412718 à vendre en France

JEOL JSM 6010 Plus/LA est un microscope électronique à balayage (SEM) conçu pour des observations détaillées d'une large gamme d'échantillons, des isolants aux conducteurs en passant par les semi-conducteurs. Comme instrument d'analyse, le 6010 Plus/LA peut mesurer des électrons secondaires ou des rayons X pour l'analyse chimique et la structure cristalline. En outre, sa tension d'accélération impressionnante de 30kV permet d'observer des caractéristiques et des détails fins avec une plus grande résolution. Le JSM 6010 Plus/LA comprend une gamme de fonctionnalités supérieures, y compris un détecteur Oxford EDS amélioré qui augmente la sensibilité et peut détecter des éléments jusqu'à U et Pb. Son haut rapport cyclique permet d'analyser les échantillons rapidement et avec plus de précision. Le régulateur de tension sophistiqué utilisé dans le SEM peut maintenir la commande de pression de l'aiguille de la colonne à 1 micron près. Le système électronique avancé du 6010 Plus/LA est capable de faire fonctionner le microscope indéfiniment. Cela en fait un excellent choix pour le fonctionnement continu ou pour les opérations fréquentes de démarrage/arrêt. Le 6010 Plus/LA est livré avec un choix de trois objectifs chacun avec ses propres capacités uniques et la résolution. Un objectif de 0,5mm offre une résolution maximale de 3 nanomètres et un champ de vision de 15mm, tandis que l'objectif de 0,3mm permet une résolution maximale de 0,8 nanomètre et un champ de vision impressionnant de 5.2mm. L'objectif de 0,1mm est idéal pour les applications nécessitant les plus hautes résolutions, avec une résolution maximale de 0,3nm et une capacité de champ de vision de 1mm. La conception ergonomique de la 6010 Plus/LA comprend un contrôle manuel complet de toutes ses fonctions, permettant une plus grande précision lors du travail avec des échantillons plus gros ou de la recherche et de l'analyse. En outre, le JSM 6010 Plus/LA est livré avec un étage facile à manœuvrer, conçu pour permettre un mouvement manuel basé sur la traduction X-Y, double inclinaison et plan focal avancé. Avec un moniteur LCD couleur 7 "facile à lire, les utilisateurs peuvent visualiser des images en haute résolution, ou avec agrandissement en direct pour une manipulation d'échantillon plus rapide et plus précise. En conclusion, JEOL JSM 6010 Plus/LA représente l'avant-garde de la microcopie électronique à balayage et offre une gamme puissante de fonctionnalités qui le rendent parfait pour une variété d'applications de recherche et d'analyse. Avec ses optiques avancées, ses capacités de haute tension et son détecteur Oxford EDS intégré, le 6010 Plus/LA est un excellent choix pour les utilisateurs de microscope électronique à balayage ultra haute résolution.