Occasion JEOL JSM 6010 Plus/LV #9233065 à vendre en France

JEOL JSM 6010 Plus/LV est un microscope électronique à balayage polyvalent (SEM) conçu pour une utilisation dans une gamme de paramètres scientifiques. L'équipement de type colonne fournit d'excellentes performances optiques d'électrons, et une résolution optimisée de 3nm. L'instrument dispose d'une grande chambre de spécimen rehaussée capable de loger des échantillons jusqu'à 100mm sur tous les côtés. Il est équipé d'une source d'électrons de grande puissance et d'un système de déplacement des échantillons, permettant une manipulation précise et l'imagerie de plus grands échantillons. Les capacités d'imagerie polyvalentes de JEOL JSM 6010 Plus/LV permettent d'observer les caractéristiques topographiques et élémentaires. L'unité est équipée d'une machine rotative d'éclairage LED capable de fournir une variété de détecteurs, y compris des détecteurs secondaires et rétrodiffuseurs dans les lentilles, pour une meilleure qualité d'image. Supportant la puissance de grossissement du microscope électronique, le faisceau incident peut être ajusté pour couvrir une large gamme de grossissements. Ceci est réalisé avec une unité d'accès optique mobile capable de fournir une plage de grossissement de 30x à 250.000x. En plus de fournir des capacités d'imagerie, le JSM 6010 Plus/LV dispose également d'une gamme de fonctions d'acquisition de données, telles que des capacités d'analyse longue et de reconstruction d'images numérisées (SIR) récompensées par plusieurs prix. Ces modes de balayage améliorent considérablement la vitesse et la précision des processus d'imagerie. Les capacités d'imagerie haute résolution de l'instrument sont encore améliorées grâce à un outil X-Ray Linescanner (XLS). Cela permet aux utilisateurs d'observer les variations d'intensité des rayons X pour l'imagerie topographique et élémentaire. Les capacités de production faciles à utiliser du JSM 6010 Plus/LV permettent une production efficace de données et d'images. Grâce à un écran tactile simple, les paramètres peuvent être ajustés pour maximiser la résolution, et les fonctions intégrées AutoScan et Zoom Scan permettent d'améliorer le flux de travail. En outre, l'actif est capable de sauvegarder et de transférer des données par le biais de multiples interfaces, assurant un stockage et un partage efficaces de grandes quantités d'informations. JEOL JSM 6010 Plus/LV est un microscope électronique à balayage avancé offrant une imagerie haute résolution, une acquisition de données polyvalente et des capacités de production simples. Ces caractéristiques en font un instrument idéal pour un éventail de contextes scientifiques incluant des applications éducatives, de recherche et industrielles.