Occasion JEOL JSM 6010LA #293635747 à vendre en France

JEOL JSM 6010LA est un microscope électronique à balayage haute performance (SEM) conçu pour exploiter la puissance des électrons dans une série d'études scientifiques. Ce dispositif est équipé d'un microscope électronique à balayage de champ lumineux comportant un canon à électrons thermique et à émission de champ, un détecteur d'électrons secondaire (SED), un spectromètre à rayons X dispersif d'énergie et un spectromètre à rayons X dispersif de longueur d'onde pour l'analyse élémentaire. Il peut fournir l'imagerie haute résolution, la cartographie des rayons X et l'analyse de la topographie et de la composition des spécimens. JSM 6010LA a la capacité de fournir une observation basse tension et de commuter facilement entre les modes de fonctionnement de l'imagerie et de l'analyse basse et moyenne tension. L'appareil est équipé d'un équipement automatisé qui contrôle l'alignement de l'échantillon pour un fonctionnement rapide, facile et précis et un contrôle de la hauteur de l'étage qui facilite l'alignement de l'échantillon et le réglage de la hauteur. D'autres fonctionnalités conviviales comprennent plusieurs systèmes de comptage automatisé, la segmentation automatique des images de spécimens et le balayage automatisé de plusieurs échantillons simultanément. JEOL JSM 6010LA utilise un détecteur de dérive de silicium (SDD) qui permet l'imagerie haute résolution et la cartographie des rayons X à plusieurs kV et résolutions. Il est également capable de produire des fonctions d'imagerie et d'analyse multimodes, y compris la cartographie des électrons rétrodiffusés (ESB) et l'imagerie approfondie. JSM 6010LA est équipé d'un système à basse dépression intégré et d'un SED à haute sensibilité qui peut fonctionner à basse et moyenne tension et produire de meilleurs résultats que les SEM classiques. De plus, ce SEM est équipé d'une unité de microbien à faisceau d'électrons (EBMP) qui fournit un spectromètre électronique à balayage nécessaire à l'analyse quantitative de l'échantillon. Cette machine peut être utilisée pour cartographier la composition élémentaire de l'échantillon en utilisant l'analyse dispersive d'énergie (EDX) avec une grande sensibilité et une faible dérive. L'EBMP est livré avec une option de visualisation de champ lumineux intégrée, permettant de visualiser les caractéristiques des spécimens en matière de structure cristalline, de granulométrie et de forme. JEOL JSM 6010LA est un microscope électronique à balayage polyvalent capable de produire une imagerie haute résolution, une cartographie et une analyse aux rayons X, et une analyse élémentaire pour une gamme d'études scientifiques. La gamme de fonctionnalités automatisées et conviviales en font un dispositif attrayant pour une grande variété d'applications de recherche.