Occasion JEOL JSM 6010LA #293754493 à vendre en France

JEOL JSM 6010LA est un microscope électronique à balayage (SEM) qui a été conçu pour des performances analytiques supérieures et la commodité d'utilisation. Sa grande distance de travail (DEO) assure une vaste gamme d'applications, et ses contrôles automatisés intégrés des étapes et de la navigation rendent le balayage des échantillons et l'examen des échantillons plus simples et plus rapides. JSM 6010LA est équipé d'une source d'électrons haute efficacité (HE) et ultra basse tension (ULV), permettant de fonctionner à des tensions d'accélération semi-élevées et basses sans compromettre les performances d'imagerie. Les détecteurs de haute sensibilité SE et d'électrons secondaires (SE2), combinés avec la précision et la résolution du faisceau d'électrons, fournissent de superbes résultats d'imagerie. JEOL JSM 6010LA comprend des fonctionnalités telles que la spectroscopie X à dispersion d'énergie intégrée (EDS) pour la microanalyse avec des capacités nano-in-situ (Incident Electron Cross-Section Analysis™) pour mesurer les particules de nanostructure avec une résolution nanométrique. Les résultats analytiques de haute précision permettent des changements énergétiques ciblés ou une comparaison échantillon-échantillon. JSM 6010LA offre une grande flexibilité dans l'environnement et la zone d'examen des échantillons. Son automatisation flexible comprend un mouvement automatisé des étages et un réglage automatisé de l'environnement. JEOL JSM 6010LA dispose d'un système de vide avancé avec des pompes à vide élevé et des turbopropulseurs qui peuvent fournir une pression jusqu'à 0,5 mbar. De plus, le porte-échantillon de JSM 6010LA est un étage d'échantillon entièrement électrique motorisé pour un positionnement précis avec contrôle des paramètres microscopiques tels que chromatique, astigmatisme et grossissement. JEOL JSM 6010LA comprend des logiciels de classe supérieure qui aident à la collecte d'images et de données, à la navigation et au contrôle. L'interface utilisateur et le logiciel permettent également le contrôle à distance des systèmes et composants du microscope, donnant accès aux chercheurs mondiaux. Enfin, JSM 6010LA offre des performances supérieures dans un emballage facile à utiliser. Ses performances avancées en imagerie électronique, en capacités analytiques et en automatisation permettent aux utilisateurs d'examiner avec précision les microstructures et les nano-matériaux à des fins de recherche. Il est également capable de mener des projets éducatifs liés à la science des matériaux et à l'ingénierie.