Occasion JEOL JSM 6010LA #9080849 à vendre en France

JEOL JSM 6010LA est un microscope électronique à balayage (SEM) conçu pour une large gamme d'applications d'imagerie et d'analyse. Le microscope électronique à balayage permet aux utilisateurs de former des images bidimensionnelles des surfaces externes de leur échantillon. Il est souvent utilisé pour des études de surface et topographiques détaillées. Ce modèle utilise une technologie de double faisceau unique, qui combine un canon à électrons accéléré et un détecteur monochromé pour permettre une microanalyse de routine et une analyse de panne de semi-conducteur. La haute résolution et le débit élevé de l'instrument le rendent idéal pour analyser une large gamme de matériaux et d'objets à l'échelle nanométrique. La micrographie électronique à balayage haute performance de JSM 6010LA offre d'excellentes capacités d'imagerie. L'instrument a une résolution de 1 nm pour les électrons secondaires et de 0,25 nm pour les électrons rétrodiffusés. Les capacités analytiques de JEOL JSM 6010LA sont complètes. L'instrument dispose d'un spectromètre à rayons X dispersif en énergie pour l'analyse élémentaire des échantillons et d'un canon à émission de champ pour le profilage de profondeur. La caractéristique spectroscopique peut être utilisée pour mesurer l'énergie de raie des rayons X avec une précision de 0,5 eV. La quantification spectrale par rayons X dispersive d'énergie offre une analyse des oligo-éléments sans préparation jusqu'au niveau ppm sans aucune préparation d'échantillon. JSM 6010LA dispose également d'un outil de test nanomécanique in situ, permettant d'étudier les propriétés des surfaces d'échantillons de déformation mécanique élastique à plastique. Cet outil est utilisé pour analyser les surfaces de fracture de matériaux soumis à des essais de fracture. Pour faciliter le fonctionnement et l'automatisation, JEOL JSM 6010LA dispose de plusieurs fonctionnalités avancées. Il est équipé d'un système automatisé de commande d'étage et d'une colonne motorisée SEM avec un système automatisé d'auto-verrouillage pour maintenir la position de l'échantillon. Il possède également un condenseur d'azote liquide qui permet de manipuler des porte-échantillons de hauteurs variables. Dans l'ensemble, JSM 6010LA est un microscope électronique à balayage précis, fiable et efficace conçu pour l'imagerie et l'analyse avancées. Ses excellentes capacités d'imagerie et de haute résolution en font un excellent outil pour un large éventail d'études.