Occasion JEOL JSM 6010LA #9220325 à vendre en France

JEOL JSM 6010LA est un microscope électronique à balayage (SEM) conçu pour l'analyse microstructurale d'échantillons solides. Il produit des images à haute résolution en balayant un faisceau d'électrons focalisés à travers la surface de l'échantillon tout en recueillant simultanément des électrons secondaires de l'interaction de l'échantillon. Le 6010LA dispose d'une chambre haute nouvellement développée qui abrite une source d'électrons d'émission de champ froid (CFEG) et un de trois détecteurs au maximum. Cela crée un environnement de travail spacieux qui peut être accessible rapidement et en toute sécurité, permettant à l'installation d'exécuter une variété de techniques complexes. JSM 6010LA utilise un détecteur d'électrons secondaires à pression variable, permettant l'imagerie à basse pression avec une charge fortement réduite ainsi que l'imagerie ultra-profonde. Ce SEM est également capable d'obtenir une large gamme de mesures topographiques de surface selon une méthode dite de « reconnaissance de profil », qui produit rapidement des images 3D. Parallèlement à cette fonctionnalité, il offre également une gamme variée de capacités d'imagerie, telles que des analyses de rayons X avec un système séparé, de sorte que l'utilisateur est en mesure d'obtenir des informations élémentaires et structurelles à partir du même SEM. JEOL JSM 6010LA est conçu pour fournir les plus hauts niveaux de résolution et de précision de balayage. Son filtre d'énergie en colonne produit une résolution nettement meilleure que les systèmes conventionnels, ce qui donne des détails et des contrastes exceptionnels. En plus des capacités d'imagerie avancées, ce SEM est idéal pour une analyse chimique et élémentaire de haute précision. Il fournit des images uniques de distribution élémentaire avec une grande sensibilité et précision, en raison de son filtre d'énergie de pointe pour la microanalyse des rayons X. Enfin, JSM 6010LA offre un design ergonomique, avec son interface conviviale offrant un fonctionnement facile. Le logiciel intuitif définit automatiquement les paramètres optimaux de l'instrument, optimisant ainsi la productivité. En outre, une grande variété d'options matérielles supplémentaires, comme un cryo-stage pour les observations à basse température, sont disponibles pour rendre le 6010LA plus polyvalent et améliorer l'expérience utilisateur. Avec toutes ces fonctionnalités combinées, JEOL JSM 6010LA est le meilleur choix pour toutes les applications d'analyse microstructurale.