Occasion JEOL JSM 6060LV #293654562 à vendre en France

ID: 293654562
Style Vintage: 2008
Scanning Electron Microscope (SEM) CE Marked 2008 vintage.
Le microscope électronique à balayage JEOL JSM 6060LV (SEM) est un instrument de pointe conçu pour fournir une capacité d'imagerie exceptionnelle, une flexibilité inégalée et des performances opérationnelles supérieures. Le SEM très avancé offre des performances supérieures avec sa haute résolution, ses performances de basse tension, son débit élevé et son optimisation avancée de l'image en temps réel. Ce système est capable de capturer des images de qualité d'échantillons nano-échelle avec la technologie ultra-bas-vide et une grande profondeur de champ. La gamme de tension d'accélération de 1 keV à 30 keV donne aux utilisateurs la flexibilité d'examiner les échantillons avec différents degrés de détail et de sensibilité. L'inclinaison avancée de l'étage dans l'échantillon peut tourner jusqu'à 45 °, permettant aux utilisateurs d'acquérir des images très détaillées d'échantillons nanométriques. Le SEM offre une nouvelle fonctionnalité 'AutoTune' qui ajuste automatiquement les paramètres de fonctionnement, optimisé pour la qualité de l'image et le type d'échantillon. En outre, une caractéristique unique est JEOL « SmartStig » qui accorde activement la stigmatisation et les paramètres de la station à la volée. Cela augmente les performances globales en sélectionnant automatiquement les réglages les plus optimaux. Le SEM offre une suite logicielle robuste pour capturer et analyser les images. L'acquisition, les mesures et l'analyse des images ont toutes été rationalisées grâce au logiciel JEOL 'ViewFlare'. En utilisant les commandes motorisées intégrées et l'optimisation des images en temps réel, des images de haute qualité peuvent être acquises rapidement et facilement. Ce logiciel permet aux utilisateurs de mesurer, d'analyser et de coder rapidement les images, avec des paramètres définis par l'utilisateur. La performance ultime du microscope électronique à balayage JEOL JSM 6060 LV est vraiment remarquable. Combinant des capacités d'imagerie supérieures et des interfaces logicielles conviviales, les utilisateurs peuvent facilement capturer et analyser une variété d'échantillons avec le plus haut degré de détail et de précision. Avec son design robuste et son large éventail de caractéristiques, JSM 6060LV est le choix idéal pour tout laboratoire nécessitant un instrument aux performances, à la fiabilité et à l'abordabilité imbattables.
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