Occasion JEOL JSM 6060LV #9314363 à vendre en France

JEOL JSM 6060LV est un microscope électronique à balayage (SEM) développé pour être utilisé dans des travaux de recherche complexes. Il a une résolution exceptionnelle et peut exactement représenter des échantillons à une résolution d'un nanomètre. En tant que microscope électronique à balayage, il utilise un faisceau focalisé d'électrons pour examiner la morphologie de surface d'un échantillon. Les électrons interagissent avec l'échantillon, créant des signaux distincts qui sont ensuite traités et analysés par le microscope. Ce type de microscope offre une gamme de caractéristiques et de capacités, telles que la cartographie des éléments de l'échantillon, ainsi que le fonctionnement dans les modes à vide élevé, à vide faible ou dans l'environnement. Un des avantages majeurs de JEOL JSM 6060 LV est sa performance optique. Sa performance peut être décrite comme exceptionnelle en termes de résolution et de résolution de contraste, le rendant idéal pour l'imagerie et l'analyse de particules et de caractéristiques minuscules. Le microscope peut produire des images avec l'imagerie la plus haute résolution. Il dispose également d'une vaste gamme d'options de détecteurs, permettant une grande variété d'expériences. La résolution à haute résolution de 1 nanomètre le rend également très efficace pour l'imagerie de petits spécimens, avec la capacité d'effectuer des mesures précises et des mesures des densités et tailles relatives. Pour les utilisateurs qui ont besoin d'une plus grande précision, JSM 6060LV dispose d'un système vidéo numérique de 5 nm de résolution, fournissant l'imagerie la plus haute résolution disponible. La performance du JSM 6060 LV est également améliorée par son logiciel d'imagerie avancé. Le logiciel offre de puissantes capacités de traitement d'image qui permettent d'appliquer des filtres, de prendre des mesures et de faire des analyses quantitatives. Le microscope dispose également d'une gamme d'options pour l'imagerie en acquérant automatiquement plusieurs images et en les combinant pour produire des images à plus haute résolution. JEOL JSM 6060LV est également un SEM analytique capable, doté d'excellentes capacités d'analyse élémentaire. Le mode STEM (Scanning Transmission Electron Microscopy) inclus permet des analyses utilisant la spectroscopie dispersive d'énergie ou la spectroscopie de perte d'énergie électronique. En outre, le filtre d'énergie intégré permet la détection d'éléments lumineux et l'analyse élémentaire aussi faible que quelques parties par million. En conclusion, JEOL JSM 6060 LV est un SEM puissant avec d'excellentes capacités. Il a une résolution et une qualité d'image exceptionnelles et une large gamme d'applications d'imagerie. Sa précision et ses capacités analytiques le rendent idéal pour tout environnement de recherche. L'interface conviviale, le logiciel d'imagerie avancé et diverses options de détection font de JSM 6060LV un excellent choix pour l'imagerie et l'analyse d'échantillons complexes.