Occasion JEOL JSM 6060LV #9408117 à vendre en France

JEOL JSM 6060LV Scanning Electron Microscope (SEM) est une tablette SEM et est l'un des modèles les plus utilisés dans les applications industrielles et dans les universités et les laboratoires de recherche. JEOL JSM 6060 LV offre une variété de fonctionnalités et de capacités qui en font le choix idéal pour un large éventail d'applications, de l'imagerie d'échantillons en détail à l'analyse élémentaire. Avec une conception de canon à émission de champ et un faisceau de haute luminosité, le SEM est conçu pour fournir une qualité d'image optimisée. Le microscope électronique à balayage est équipé d'un détecteur InLens et est capable d'effectuer l'imagerie électronique secondaire et rétrodiffusée. Il a également une grande taille de chambre, ce qui permet l'analyse d'échantillons de matériaux non conducteurs à une plage de grossissement plus élevée. L'unité est conçue pour offrir un fonctionnement facile et une large gamme de méthodes d'imagerie. Il a une ultra haute résolution qui peut atteindre une résolution de 4.5nm avec une distance de travail minimale de 9mm. L'unité dispose également d'un mode à vide faible, ce qui signifie qu'elle peut travailler sur des échantillons non conducteurs sans chambre à vide. JSM 6060LV a une grande variété de porte-échantillons, permettant à l'utilisateur d'effectuer une large gamme d'applications, y compris EDS, WDS, EDX, EBSD, et la cartographie STM. La pression maximale de la chambre est faible (< 5 × 10 − 3 Pa) et en outre, l'unité est équipée d'un système d'alignement automatique. L'unité dispose également d'une fonction de couture d'image, permettant à l'utilisateur de capturer des images composites avec une précision de 10 microns. En outre, le système de contrôle logiciel avancé permet des réglages fins pour un large éventail d'applications. En conclusion, JSM 6060 LV Scanning Electron Microscope est un SEM puissant, polyvalent et facile à utiliser qui est un excellent choix pour les chercheurs et les utilisateurs industriels. Le SEM offre d'excellentes performances, avec sa grande variété de porte-échantillons, détecteur InLens, ultra haute résolution, mode basse dépression, système d'alignement automatique et couture d'image. Le SEM est bien adapté à une grande variété de matériaux, ce qui en fait un excellent choix pour de nombreuses applications.