Occasion JEOL JSM 6100 #201085 à vendre en France
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ID: 201085
Scanning Electron Microscope (SEM)
200 VAC, 15A, 1 phase, 50/60 Hz, 3 kVA.
JEOL JSM 6100 est un microscope électronique à balayage (SEM) qui peut être utilisé pour l'imagerie haute résolution et l'analyse de surface. Il peut être utilisé en mode à vide faible ou élevé, ce qui le rend adapté à un large éventail d'applications. Les principaux composants de l'équipement comprennent un canon à électrons, une optique électronique, un système de détection et une chambre de prélèvement. Le canon à électrons produit un faisceau d'électrons qui sont accélérés à l'énergie désirée. L'unité d'optique électronique focalise et façonne le faisceau, et détermine le niveau de grossissement de l'image. La machine de détection enregistre les électrons qui atterrissent sur l'échantillon, ce qui donne une image bidimensionnelle de la surface. La chambre de prélèvement est l'endroit où l'échantillon est placé pour l'imagerie et l'analyse. Les caractéristiques du JSM 6100 le rendent bien adapté à l'imagerie d'une variété de matériaux. Il a une plage de tension d'accélération de 1-30 kV, et une plage de grossissement de 10x-800kX. Cette large gamme de tensions et de grossissements le rend apte à l'imagerie de tout, des couches minces aux particules sous-microns. Il est également capable d'imiter et d'analyser diverses surfaces d'échantillons, y compris des matériaux fragiles tels que des diélectriques et des polymères. JEOL JSM 6100 a également un certain nombre de fonctionnalités d'amélioration, qui permettent aux utilisateurs d'obtenir des images encore plus détaillées. Il dispose d'un détecteur d'électrons secondaire intégré, qui permet aux utilisateurs de distinguer des détails plus fins d'une surface d'échantillon. Il comporte également un détecteur d'électrons rétrodiffusés, capable d'assurer le contraste entre différentes pièces de matériau. De plus, le JSM 6100 est équipé d'un étage automatisé qui permet un positionnement rapide et facile des échantillons. Dans l'ensemble, JEOL JSM 6100 est un excellent microscope électronique à balayage pour l'imagerie haute résolution et l'analyse de surface. Sa plage de tension d'accélération élevée et ses niveaux de grossissement importants le rendent apte à analyser une variété de matériaux, tandis que ses détecteurs intégrés et son étage automatisé donnent encore plus de détails et de précision à l'utilisateur. Avec ces caractéristiques, JSM 6100 est un outil précieux pour tout laboratoire de microscopie.
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