Occasion JEOL JSM 6100 #293766593 à vendre en France

JEOL JSM 6100 est un microscope électronique à balayage (SEM) qui a été développé pour fournir une imagerie haute résolution à l'utilisateur. Il est capable de produire des images à haute résolution jusqu'à un grossissement de × 400 000 en utilisant l'imagerie électronique secondaire ou rétrodiffusée. L'instrument est également équipé d'une chambre d'échantillonnage à basse dépression, qui permet un montage et une manipulation faciles sans nécessiter de conditions UHV conventionnelles. En outre, l'instrument est également capable de diffraction électronique, technique souvent utilisée pour étudier les caractéristiques structurelles d'un matériau. JSM 6100 est un outil analytique avec les RÉDACTEURS refroidits d'un LN2-(l'énergie Dispersive Spectrometry) le détecteur intégré dans l'équipement, en tenant compte de la haute résolution l'analyse élémentaire de jusqu'à 10 nm. Ce système dispose également d'un microscope optique inversé, qui est capable de capturer des images de surfaces d'échantillons à des grossissements allant jusqu'à 2500 × afin d'aider à l'identification et à la localisation des zones d'intérêt. JEOL JSM 6100 a été conçu pour répondre aux applications SEM les plus exigeantes, avec son grand volume de chambre et son unité de vide supérieure. Sa chambre multifonctionnelle isotherme permet à l'utilisateur d'obtenir d'excellentes images et un vide stable même avec une observation à long terme. La chambre est également équipée d'un chargeur d'échantillons motorisé, permettant un chargement ou un déchargement d'échantillons facile et rapide. Le JSM 6100 est équipé d'un dispositif de chauffage avancé à faisceau E, assurant un chauffage constant et homogène des échantillons de RT à 225℃ ; permettant des analyses thermiques à haute résolution telles que XRD, XRR et TEM. L'instrument est en outre équipé de sondes à faisceau intelligent et de machines à focalisation fine, permettant aux utilisateurs d'obtenir des images haute résolution avec une répétabilité exceptionnelle. L'outil utilise un blanker E-Beam très efficace, générant des temps de blanchissement courts à un taux de répétition élevé de sorte que plusieurs images peuvent être obtenues dans un court laps de temps. JEOL JSM 6100 est un outil idéal pour les chercheurs à la recherche d'imagerie haute résolution, d'analyse élémentaire et d'analyse thermique. Sa conception sophistiquée et son ingénierie avancée en font le choix idéal pour ces applications.