Occasion JEOL JSM 6100 #293816150 à vendre en France

JEOL JSM 6100 est un microscope électronique à balayage (SEM) conçu pour l'imagerie, l'analyse élémentaire et l'analyse de surface d'échantillons dans des applications industrielles, biologiques et scientifiques des matériaux. JSM 6100 offre une variété de capacités analytiques pour soutenir un large éventail de recherches scientifiques. Le SEM utilise un canon à émission de champ à haute résolution monochromée à vide (FEG) pour améliorer la résolution d'image, le contraste et le débit. La FEG est réglable pour le contraste et d'autres paramètres d'imagerie, ce qui permet d'optimiser la résolution et la portée de l'image. L'équipement dispose d'une électronique de pointe pour un contrôle intuitif et fiable du processus d'imagerie. Le SEM est équipé d'une gamme complète de modes d'imagerie avancés, y compris l'imagerie électronique rétrodiffusée (ESB), l'imagerie électronique secondaire (SE) et la cathodoluminescence. L'ESB offre une capacité d'imagerie de champ de profondeur supérieure, ce qui la rend idéale pour l'analyse de la topographie de surface et de la coloration. Le mode SE produit une image contrastée de la morphologie de la surface et est idéal pour l'imagerie des motifs de grêle et de fissure dans les échantillons durs. Le mode SE permet également une analyse élémentaire quantitative de l'échantillon, fournissant une représentation précise de la composition élémentaire de l'échantillon. JEOL JSM 6100 utilise un détecteur de spectroscopie à rayons X (EDS) dispersive d'énergie pour effectuer une analyse élémentaire des matériaux. L'EDS offre une résolution, une sensibilité et une discrimination énergétique supérieures que les systèmes traditionnels d'EDS sont incapables de fournir. L'EDS est intégré au microscope SEM, permettant une cartographie rapide et efficace des éléments présents dans les échantillons. JSM 6100 est livré avec un système d'imagerie raffiné, offrant une résolution d'image supérieure, le contraste, et la flexibilité pour effectuer une variété de tâches analytiques. L'unité est capable d'imiter des spécimens avec une résolution allant jusqu'à 1,5 nm. La machine est également équipée d'un étage d'échantillonnage automatisé, permettant une traversée et une cartographie automatisées des échantillons. L'automatisation de l'étage d'échantillonnage améliore le débit et la précision de la capture d'image. JEOL JSM 6100 est un outil efficace et fiable pour une large gamme de tâches d'imagerie et d'analyse. L'actif est fiable et nécessite peu d'entretien, ce qui permet un fonctionnement rentable et cohérent. La plate-forme est également équipée de caractéristiques de sécurité avancées, assurant une sécurité optimale du personnel pendant l'exploitation. La combinaison de capacités avancées d'imagerie, d'analyse et d'automatisation fait du JSM 6100 un modèle idéal pour la recherche industrielle, biologique et en sciences des matériaux.