Occasion JEOL JSM 6100 #9147721 à vendre en France

ID: 9147721
Scanning electron microscope (SEM) Resolution: High vacuum mode: 3.0 nm(30kV) Low vacuum mode: 4.0 nm(30kV) Accelerating voltage: 0.3 to 30 kV Magnification: x5 to 300,000 Filament: Pre-centered w hairpin filament (with continuous auto bias) Objective lens: Super conical lens.
Le microscope électronique à balayage JEOL JSM 6100 (SEM) est un appareil d'imagerie haute performance utilisé dans diverses applications telles que l'analyse des matériaux, la nanotechnologie et la recherche en sciences de la vie. Ce SEM avancé produit des images haute résolution avec une résolution maximale de 16 nm, et fournit une acquisition d'image complète automatisée et ultra-rapide. Le SEM a également une variété de modes d'imagerie, tels que les électrons rétrodiffusés, les électrons secondaires et l'imagerie cathodoluminescente qui permettent d'observer une grande variété de types d'échantillons. JSM 6100 dispose d'un équipement avancé d'optique électronique à balayage, qui fournit une qualité d'image inégalée et une profondeur de champ inégalée. Il est livré avec un grand champ de vision, jusqu'à 55 mm de diagonale, et est capable d'obtenir des détails encore plus fins sur une plus grande surface que les systèmes rivaux. L'instrument dispose également d'une interface utilisateur intuitive avec un panneau tactile facile à utiliser. Cela permet un fonctionnement intuitif et une formation minimale de l'utilisateur. Le SEM est alimenté par un détecteur haute performance et un système d'acquisition vidéo numérique haute résolution. En outre, le SEM est équipé d'un étage d'échantillonnage automatisé avec une grande variété de porte-échantillons ainsi que des capacités de balayage automatisé des étages. Cela permet l'acquisition de grands ensembles de données rapidement et facilement. Le SEM utilise un canon à électrons automatique de 10 keV à 25 keV, ce qui le rend très polyvalent pour diverses applications. Il dispose d'un circuit unique de décélération du faisceau qui peut accélérer et décélérer les électrons à des niveaux précis pour éliminer la charge statique dans les échantillons sensibles. JEOL JSM 6100 est également conçu pour le fonctionnement à faible vibration, avec des niveaux de bruit inférieurs à 50dB, lui permettant de produire des images de haute qualité dans une variété d'environnements. En outre, il dispose de multiples interfaces externes de style PC et d'une gamme étendue de capacités d'analyse et d'évaluation d'images. Dans l'ensemble, le JSM 6100 est un microscope électronique à balayage puissant et fiable qui offre une combinaison inégalée de performances d'imagerie, d'utilisateurs et de caractéristiques environnementales. Avec sa machine optique SEM avancée, son interface utilisateur intuitive et son étage d'échantillonnage entièrement automatisé, JEOL JSM 6100 est idéal pour une variété d'applications.
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