Occasion JEOL JSM 6100 #9157307 à vendre en France

JEOL JSM 6100 est un microscope électronique à balayage (SEM) qui utilise des électrons secondaires (SE) pour produire des images à haute résolution d'échantillons au microscope électronique. JSM 6100 est un microscope électronique à balayage à pression variable qui permet à l'opérateur de faire varier la pression de la chambre d'une haute pression de 3 pascals (environ 2 millitorr) à une basse pression de 10-6 pascals (environ 30 nanotorr). Cette plage de pression permet l'imagerie d'échantillons non conducteurs en réduisant l'effet de charge. L'étage d'échantillon peut tourner à 360 ° avec une plage d'inclinaison de -80 ° à + 90 °, ce qui le rend idéal pour l'imagerie oblique. L'étape du spécimen peut également aider l'opérateur à régler la hauteur du spécimen. L'échantillon peut être placé dans un support et élevé à l'objectif qui a une courte distance de travail de seulement 8mm, ce qui le rend idéal pour les petits échantillons qui nécessitent un fort grossissement. Ce fort grossissement est rendu possible grâce à la plage de grossissement des lentilles de 5x à 45.000x. JEOL JSM 6100 dispose également de deux détecteurs SE 30 kV conçus pour être utilisés en même temps, chaque détecteur a une plage de grossissement de 30x à 20000x. Le JSM 6100 est équipé d'un détecteur Everhart-Thornley Type SE qui est utilisé pour l'imagerie d'échantillons conducteurs et non conducteurs. Ce détecteur utilise une coupelle de Faraday pour détecter la rétrodiffusion d'électrons et un détecteur d'état solide (TED) pour détecter les électrons secondaires. Le détecteur Everhart-Thornley SE dispose d'une large gamme dynamique et résolution pour faire ressortir de beaux détails sur la surface de l'échantillon. Le détecteur SE Everhart-Thornley peut être combiné avec le deuxième détecteur, une source électronique à émission longue divergente (LEED), pour étendre la plage de détection à l'échelle atomique. Le LEED permet l'imagerie de surfaces non conductrices et la détermination précise de la structure cristalline. La source LEED a deux ouvertures avec contrôle manuel et la capacité de faire varier le courant d'émission de 0 à 100 nA. JEOL JSM 6100 est un puissant microscope électronique à balayage idéal pour l'imagerie d'échantillons à l'échelle nanométrique. Il est capable d'imiter des échantillons non conducteurs avec une excellente résolution et précision. JSM 6100 est un outil idéal pour l'imagerie de détails de surface conducteurs et non conducteurs, ainsi que la détermination de la structure atomique.