Occasion JEOL JSM 6100 #9219588 à vendre en France

JEOL JSM 6100 est un type de microscope électronique à balayage (SEM) conçu pour l'imagerie haute résolution des matériaux à des grossissements faibles et élevés. Ce puissant outil d'analyse combine une combinaison exceptionnelle d'imagerie extrêmement haute résolution, une profondeur de champ supérieure, et des capacités de détection élémentaire haute sensibilité avec une large gamme de taille de spécimen et de compatibilité de forme. L'instrument combine un microscope électronique à balayage à pression variable avec un système de lentilles ultra-haute résolution. Le canon à électrons est équipé d'un filament thermionique à faible vide et fournit une épaisseur primaire de faisceau d'électrons de 0,2 nm seulement. Cette haute précision rend JEOL-JSM 6100 parfaitement adapté aux applications nécessitant une imagerie haute résolution et une analyse de surface. Le système unique de pompage sous vide permet d'évacuer le système jusqu'à des pressions ultra-basses, ce qui améliore grandement la production d'images SE (électrons secondaires) de haute qualité. Le détecteur d'électrons secondaire est équipé d'une vitesse de balayage variable et d'une ouverture dynamique, ce qui améliore encore la qualité et la flexibilité de l'imagerie. Le détecteur SE avancé comporte un réseau de quatre détecteurs, chacun ayant un champ de vision de 5 ou 10 µm lorsqu'il est agrandi jusqu'à 300 000 fois. Cela permet l'imagerie SE simultanée dans plusieurs canaux pour des applications avancées telles que l'imagerie multi-énergie et la lithographie par faisceau électronique. En outre, JEOL-JEOL JSM 6100 est équipé d'un détecteur d'électrons rétrodiffuseur optionnel qui le rend adapté à une utilisation en mode ESEM (environnement SEM). En plus de ses capacités d'imagerie de haute précision, JEOL-JSM 6100 supporte également une large gamme de capacités d'analyse standard et optionnelle, y compris la spectroscopie X dispersive d'énergie et la cathodoluminescence. Avec son imagerie haute résolution, une profondeur de champ supérieure et une large gamme de capacités analytiques, JEOL-JEOL JSM 6100 est idéal pour une inspection et une caractérisation puissantes des matériaux.