Occasion JEOL JSM 6100 #9224652 à vendre en France

JEOL JSM 6100 est un microscope électronique à balayage (SEM) conçu pour effectuer des inspections de surface et l'analyse d'une gamme d'échantillons. Il dispose d'un grand champ de vision à haute résolution et d'un équipement à pression variable, ce qui le rend bien adapté à l'observation et à l'analyse d'échantillons à structure géométrique fine. Le JSM 6100 a une puissance maximale de 30 kV et un grossissement maximal de 90 000 fois. Le microscope est équipé d'une source électronique de canon à émission de champ (FEG), qui offre une plus grande stabilité et une plus grande utilisation de l'énergie par rapport aux autres sources. Cela permet une résolution et une qualité d'imagerie supérieures. Le microscope est capable de fournir trois types de données de numérisation, allant de la vraie vue de plan aux images de profil de profondeur. De plus, un système d'image numérique est disponible pour l'observation et l'affichage de l'échantillon. L'échantillon peut être préparé pour la photographie à l'aide d'une gamme de techniques, y compris le dépôt par faisceau, le revêtement par pulvérisation et le dépôt chimique en phase vapeur. Avec un instantané de moins de deux secondes, JEOL JSM 6100 permet un traitement rapide des échantillons et une visualisation ultérieure. Le JSM 6100 offre également plusieurs fonctions d'analyse automatisées. Il s'agit notamment de trois modes spécialisés qui peuvent être utilisés pour effectuer l'imagerie rétrodiffusée, l'analyse élémentaire EDX et la diffraction rétrodiffusée des électrons. De plus, le microscope permet un alignement automatisé et un contrôle de la focalisation, ce qui signifie que l'alignement des échantillons et la focalisation optimale peuvent être réalisés rapidement et avec précision. En plus du JEOL JSM 6100, JEOL propose une gamme d'accessoires pour personnaliser l'appareil. Cela comprend divers composants sous vide, tels qu'un chargeur d'échantillons et une machine de chauffage à chambre ; les étages au microscope, tels que les moteurs pas à pas pour le mouvement des échantillons ; détecteurs tels que les rayons X, les électrons secondaires, les électrons rétrodiffusés et les détecteurs de cathodoluminescence. Ces composants peuvent être utilisés pour personnaliser l'outil et étendre ses capacités aux besoins spécifiques de l'utilisateur. Dans l'ensemble, le JSM 6100 SEM est un atout puissant et sophistiqué qui peut être utilisé pour une gamme d'applications. Sa haute résolution, son champ de vision étendu et ses caractéristiques d'imagerie et d'analyse avancées le rendent idéal pour l'observation et l'analyse d'échantillons avec des détails fins. Capable de traiter et d'afficher rapidement les données, JEOL JSM 6100 SEM est un outil efficace pour l'inspection et l'analyse de surface.