Occasion JEOL JSM 6100 #9226960 à vendre en France

JEOL JSM 6100 est un microscope électronique à balayage (SEM) conçu pour l'imagerie haute résolution. Il est capable de produire des images avec une résolution spatiale beaucoup plus élevée que les microscopes optiques traditionnels, ce qui en fait un outil puissant pour étudier les structures nanométriques de nombreux matériaux. Le JSM 6100 est équipé d'une source d'électrons à balayage d'émission de champ (FESEM) qui fournit un meilleur rapport signal/bruit et une résolution plus élevée que les SEM à émission thermique. Dans la configuration FESEM, il a des capacités de résolution jusqu'à 0,7 nm en mode électron secondaire et 1,5 nm en mode électron rétrodiffusé. JEOL JSM 6100 utilise une étape de balayage qui comporte des bobines de déflexion à deux axes et une manipulation d'échantillon contrôlée par ordinateur. Il a une plage de mouvement de 12 um, permettant une imagerie rapide et précise. Le JSM 6100 dispose également d'une grande distance de travail de 25 mm, permettant une manipulation et un placement faciles des échantillons sans endommager les échantillons délicats. JEOL JSM 6100 est également livré avec de nombreuses fonctionnalités d'imagerie avancées. Ceux-ci comprennent l'imagerie résolue en angle, qui permet de cartographier les nombreuses caractéristiques de la surface dans le détail précis. Il comporte également une analyse de composition permettant de déterminer facilement la composition chimique d'un échantillon. Le JSM 6100 offre une imagerie à pression variable, qui permet l'imagerie sous une gamme de pressions de vide, permettant d'observer des caractéristiques inférieures à la limite de résolution de l'instrument. JEOL JSM 6100 est équipé d'un détecteur EDS (energy dispersive spectromtry) pour l'analyse élémentaire. Ce détecteur est capable de détecter des éléments du tableau périodique jusqu'à une limite de détection inférieure à 1 %. Le JSM 6100 dispose également d'un mode d'imagerie ultra haute résolution, permettant l'imagerie de fonctions jusqu'à 0,3 nm. Dans l'ensemble, JEOL JSM 6100 est un microscope électronique à balayage puissant et polyvalent équipé de nombreuses fonctionnalités avancées, parfait pour l'imagerie et l'analyse de structures nanométriques.