Occasion JEOL JSM 6100 #9239600 à vendre en France

JEOL JSM 6100
ID: 9239600
Scanning Electron Microscope (SEM), parts machine.
JEOL JSM 6100 est l'un des microscopes électroniques à balayage (SEM) les plus avancés disponibles, conçu pour des performances d'imagerie supérieures et une analyse précise des échantillons. Il utilise une source d'électrons de type émission de champ et un nouvel équipement optique à deux lentilles qui permet la détection d'électrons secondaires jusqu'à un niveau atomique. JSM 6100 est capable de grossissements jusqu'à 300.000 fois, avec une résolution de balayage de 20nm, et une résolution d'axe Z de 0.1nm. Il dispose d'un système de balayage à grande vitesse, qui permet l'imagerie rapide des spécimens, fournissant des données précises rapidement. Une fonction de piquage d'image garantit que les images produites sont de la plus haute qualité possible, tandis qu'un détecteur EDX intégré permet aux utilisateurs d'acquérir une analyse élémentaire précise de l'échantillon scanné. JEOL JSM 6100 intègre un mode d'exploitation convivial, qui permet à l'utilisateur de fonctionner facilement et de configurer le SEM. Les paramètres de balayage peuvent être prédéfinis dans l'appareil, tandis que les modes de visualisation multiples permettent aux utilisateurs d'observer et d'analyser des échantillons d'images en temps réel. Un appareil photo numérique est également intégré au microscope, permettant aux utilisateurs de capturer des images numériques haute résolution et de faciliter le partage des résultats via l'ordinateur. JSM 6100 offre plusieurs fonctions automatisées qui simplifient le processus d'imagerie et d'analyse. Une unité automatisée de contrôle des échantillons assure que les échantillons sont correctement préparés et montés pour le balayage. La machine de mise au point détecte automatiquement la surface de l'échantillon et ajuste les réglages nécessaires, éliminant le besoin de réglage manuel. Un outil automatique de sélection de la taille et de la forme de la zone de balayage est également intégré au microscope, ce qui permet de sélectionner facilement une gamme de tailles de balayage. JEOL JSM 6100 est l'un des plus puissants SEM disponibles, offrant un haut niveau de performance d'imagerie et des opérations automatisées. Il est capable de produire des images haute résolution d'échantillons au niveau atomique, tout en fournissant une analyse élémentaire précise via son détecteur EDX. Les systèmes automatisés simplifiés aident à accélérer le processus de numérisation, permettant même aux utilisateurs novices d'obtenir des résultats exceptionnels rapidement et facilement.
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