Occasion JEOL JSM 6100 #9257837 à vendre en France

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ID: 9257837
Scanning Electron Microscope (SEM).
JEOL JSM 6100 est un microscope électronique à balayage (SEM) conçu pour un large éventail d'applications telles que l'imagerie et l'analyse. C'est un instrument fiable et très polyvalent qui est utilisé depuis son lancement initial au début des années 2000. Le JSM 6100 est équipé d'une chambre à 5 axes qui permet au SEM de prendre des images de différents points de vue. Cela donne une flexibilité inégalée et la résolution la plus élevée. Ses caractéristiques comprennent la possibilité de changer de position pour prendre des images de différents angles d'échantillons de 0 à 60 °, couplée à une unité de commande à 5 axes qui aligne continuellement la colonne électronique pour l'imagerie précise des caractéristiques à haut rapport d'aspect. Son accès optique et son isolation vibratoire garantissent également la résolution et le contraste les plus élevés. JEOL JSM 6100 est capable de capturer des images de résolution à l'échelle nanométrique et des données de volume 3D de spécimens aussi minces que 1nm. Il est souvent utilisé pour l'analyse avancée des matériaux et des défaillances, comme la caractérisation des transistors, les applications de métrologie 3D/profilage, et la visualisation des propriétés des types de matériaux. JSM 6100 convient également pour l'examen de spécimens biologiques tels que des tissus, des plantes et des poudres difficiles à observer au microscope à lumière. Le microscope est équipé d'une large gamme d'étages automatisés. Cela comprend une grande étape qui peut balayer rapidement de grandes zones de spécimens et l'étape d'échange d'échantillons qui permet de monter un certain nombre d'échantillons rapidement et avec précision. Le microscope dispose également d'une alimentation à haute tension intégrée, ce qui contribue à réduire les coûts de fonctionnement et le temps de maintenance. JEOL JSM 6100 comprend également des outils avancés de traitement d'images qui améliorent la qualité d'image des images STEM et ajustent les courants de faisceau pour réduire les dispositifs environnementaux sur les surfaces d'échantillons. En outre, JSM 6100 dispose également d'un système EDS en colonne (Energy Dispersive Spectromtry) d'acquisition de données et de détecteurs interchangeables qui permettent à l'utilisateur d'obtenir une analyse élémentaire de l'échantillon. JEOL JSM 6100 est un microscope électronique à balayage puissant et fiable qui convient à un large éventail d'applications. Ses caractéristiques et ses capacités en font un instrument très polyvalent qui répondra aux besoins d'une variété de chercheurs en sciences des matériaux, d'analystes d'échecs et de biologistes.
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