Occasion JEOL JSM 6300 #293658285 à vendre en France

Le microscope électronique à balayage JEOL JSM 6300 (SEM) est un instrument de pointe qui combine la dernière technologie de balayage électronique et d'accélération avec une haute résolution d'imagerie et d'analyse des échantillons. Il est idéal pour la recherche et les applications industrielles où il y a besoin d'une imagerie et d'une analyse rapides et précises. Le système est capable d'atteindre 30kV à 5MV de tension d'accélération pour une résolution et un contraste optimisés conduisant à la formation d'image propre sans nécessité de correction de faisceau. Son canon à émission de champ haute résolution d'une taille de 1 nm permet une visualisation détaillée de particules plus petites à des grossissements plus importants. Il permet également de capturer des images à des fins d'analyse et de les combiner avec une grande variété de programmes et de logiciels d'analyse. Le microscope électronique à balayage JEOL JSM-6300 dispose d'un étage universel automatisé avec un système d'inclinaison et de rotation intégré pour une vue à 360 degrés. L'étape est compatible avec une variété de porte-échantillons, comme un talon de grille en diamant, porte-spécimen inversé et porte-échantillon amovible à rotation génique, afin d'assurer la manipulation et le confinement sécurisés des spécimens. Des fonctions d'imagerie avancées telles que Multi-Focus, Large Field Image Transfer, Multi-Field Image Capture et Séquence Capture d'image sont disponibles pour une imagerie transparente et efficace. Avec un traitement d'image de haut niveau, un comptage et une imagerie automatisés des particules, une projection d'image sans distorsion et des outils d'automatisation de laboratoire polyvalents, JSM 6300 est une plate-forme fiable pour l'imagerie et l'analyse. JSM-6300 microscope électronique à balayage est également équipé d'une caméra CCD pour les images électroniques secondaires, avec des paramètres d'exposition réglables pour une luminosité, un contraste et une résolution optimaux. La caméra dispose d'un obturateur interne global avec un système de synchronisation précis et CCD de transfert de trame pour la capture rapide d'images. En plus de ses capacités d'imagerie renommées, JEOL JSM 6300 SEM est également équipé de composants analytiques, tels qu'un double détecteur pour la spectrométrie à rayons X dispersive d'énergie (EDS) et la diffraction par rétrodiffusion d'électrons (EBSD). Le détecteur EDS offre une résolution supérieure et une plage dynamique avec commutation automatique d'échantillons pour une meilleure vitesse d'analyse et précision. Le détecteur EBSD fournit une capacité de cartographie élémentaire rapide pour des échantillons aux textures et compositions complexes. Enfin, JEOL JSM-6300 SEM est contrôlé avec une interface utilisateur intuitive à écran tactile et une fenêtre de navigation 3D unique. Cette suite logicielle avancée permet aux chercheurs de gérer et de manipuler tous les types de données d'imagerie et d'analyse pour une analyse complète et efficace. En outre, le JSM 6300 est adapté à un large éventail d'applications telles que l'inspection de dispositifs semi-conducteurs, la métrologie de surface et la recherche de matériaux.