Occasion JEOL JSM 6300 #293750615 à vendre en France

ID: 293750615
Scanning Electron Microscope (SEM).
JEOL JSM 6300 est un microscope électronique à balayage (SEM) de pointe qui donne aux utilisateurs la plus haute résolution pour les capacités d'imagerie et d'analyse. Doté d'une chambre à ultra-haut vide (UHV) pour l'imagerie ultra haute résolution jusqu'à 5 nm, JEOL JSM-6300 est équipé de fonctionnalités intégrées et d'outils de précision nécessaires pour faire le travail. Le Field Emission Gun (FEG) avec détecteur d'électrons secondaire dans la lentille produit un très faible courant de faisceau d'électrons, permettant à l'utilisateur de produire des images à très haute résolution avec des taux de destruction d'échantillons faibles. Le détecteur dans la lentille a une contribution de fond de haut débit et de basse chambre, ce qui permet une meilleure compréhension de l'échantillon inspecté. Le JSM 6300 SEM comprend un appareil photo à couplage chargé (CCD) de haute qualité pour capturer à la fois des grossissements faibles et des images à haute résolution. La caméra CCD est directement couplée au détecteur dans la chambre de l'échantillon, permettant des grossissements jusqu'à 7000x. JSM-6300 comprend également un détecteur EDS (energy dispersive spectrometer) qui peut fournir une analyse élémentaire d'un échantillon. Le détecteur est intégré au SEM et permet d'identifier et de cartographier des éléments à l'intérieur d'un échantillon à haute résolution. JEOL JSM 6300 comprend également un étage automatisé qui peut être utilisé pour déplacer un échantillon dans la chambre, ce qui permet aux utilisateurs d'imaginer différentes zones d'un échantillon sans avoir à ajuster manuellement la position de l'échantillon. De plus, l'étape peut être programmée pour effectuer des traces et des balayages de ligne à travers la surface de l'échantillon. La combinaison des fonctionnalités intégrées dans JEOL JSM-6300 permet aux utilisateurs de produire des images très haute résolution des échantillons, ainsi que de réaliser des analyses précises des échantillons. Avec la capacité d'image et d'analyse des échantillons à la résolution nano-échelle, JSM 6300 est l'outil idéal pour la microscopie avancée et l'analyse élémentaire.
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