Occasion JEOL JSM 6300 #293825454 à vendre en France

JEOL JSM 6300 est un microscope électronique à balayage de classe recherche spécialement conçu pour effectuer une imagerie détaillée à haute résolution et une analyse de composition. Ce microscope électronique à émission de champ (FE-SEM) dispose d'un canon à émission de champ froid qui fournit des électrons qui peuvent être accélérés à différentes énergies - de 0,5 keV à 30 keV - afin que l'opérateur puisse effectuer une large gamme d'imagerie et d'analyse de surface. JEOL JSM-6300 offre une résolution impressionnante jusqu'à 2,5 nm, permettant des observations très détaillées des spécimens de l'échelle nanométrique jusqu'à l'échelle micron. Sa grande chambre de promotion et 10μm la grandeur de tache y donne la flexibilité à être utilisée pour analyser une gamme de types d'échantillon, de petites particules à de grands appareils de semi-conducteur. Une caractéristique supplémentaire de JSM 6300 est son système avancé EDS (spectroscopie dispersive d'énergie). Ce système est capable de détecter des éléments de numéro atomique aussi bas que le bore (numéro atomique 5). En utilisant ses composants spectromètres et générateurs de rayons X, le système EDS peut effectuer des analyses qualitatives et quantitatives précises des échantillons sans les endommager. En outre, JSM-6300 fournit également une étape de mouvement rapide qui peut rapidement vent, pan et zoom à la zone requise afin de gagner du temps lors de la collecte de données. Ce dispositif de positionnement est convivial et est capable de placer et de scanner avec précision soit l'ensemble de l'échantillon, soit une zone localisée dans son champ de vision. En bref, le JEOL JEOL JSM 6300 peut être un outil précieux pour les laboratoires de recherche qui nécessitent une imagerie haute résolution et une analyse de composition pour leur spécimen. Sa combinaison de haute résolution et de précision le rendent idéal pour une variété d'applications et ses fonctionnalités avancées le rendent pratique à utiliser.