Occasion JEOL JSM 6300 #9234610 à vendre en France

JEOL JSM 6300
ID: 9234610
Scanning Electron Microscope (SEM) PC Controlled Voltage: 0.2 kV - 30 kV Magnification: 10 x - 300,000 x Detectors: SE, BSE Resolution: 3.5 nm (at 30 kV) Option: EDX.
JEOL JSM 6300 est un microscope électronique à balayage (SEM) conçu spécifiquement pour l'imagerie et l'analyse de divers échantillons, tels que métaux, céramiques, polymères, semi-conducteurs, composites et autres matériaux. Il fournit une capacité d'imagerie haute résolution pour des fonctionnalités d'échantillonnage extrêmement petites avec une taille minimale de fonctionnalité aussi petite que 0.5nm. La conception de JEOL JSM-6300 dispose d'un programme d'imagerie numérique haute résolution avancé pour l'échantillonnage et l'imagerie d'une variété de tailles d'échantillons. Il combine deux modes de fonctionnement distincts pour améliorer les capacités d'imagerie : l'imagerie électronique secondaire (SEI) et l'imagerie électronique rétrodiffusée (BSEI). Le SEI est bien adapté pour inspecter et analyser les topographies de surface, tandis que le BSEI est idéal pour obtenir des informations détaillées sur la composition des échantillons et les morphologies des matériaux. JSM 6300 a un design compact avec des fonctionnalités de fonctionnement polyvalentes et une interface utilisateur intuitive. Sa conception avancée permet l'exploration sur un large éventail de champs de vision, ainsi que des gammes de mouvement dans les axes x, y et z. En outre, JSM-6300 dispose d'une grande chambre d'échantillon capable de loger jusqu'à deux porte-échantillons de 4 "pour une manipulation efficace de l'échantillon. JEOL JSM 6300 possède également une gamme de capacités analytiques, telles que l'analyse des éléments spectraux des rayons X dispersifs d'énergie (EDX), l'analyse de diffraction par rétrodiffusion d'électrons (EBSD) et les capacités de cartographie de phase. Il dispose d'un contrôle optimal de l'utilisateur pour personnaliser les paramètres d'imagerie pour acquérir des images détaillées et précises. Avec sa sensibilité, sa stabilité et sa flexibilité supérieures, JEOL JSM-6300 est bien adapté à une variété d'applications dans les environnements de recherche et de fabrication. Ses fonctionnalités polyvalentes le rendent adapté à de nombreux travaux d'imagerie et d'analyse, répondant aux besoins de nombreux utilisateurs dans les domaines industriel, scientifique et universitaire.
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