Occasion JEOL JSM 6300 #9314149 à vendre en France

ID: 9314149
Scanning Electron Microscope (SEM) Resolution: 1.5 nm @ 30 kV Maximum chamber / Sample size: 5" Sample size X x Y: 50 x 70 mm Manual stage.
JEOL JSM 6300 est un microscope électronique à balayage avancé (SEM) conçu pour des applications d'imagerie et d'analyse à haute résolution. Il est capable de fournir une qualité d'image et une résolution spatiale supérieures par rapport aux microscopes optiques traditionnels. JEOL JSM-6300 dispose d'un grand détecteur d'électrons secondaires de 17,0 cm x 11,5 cm avec une taille de pixel de 25,4 μ m et un détecteur d'électrons rétrodiffusés de 4,2 cm x 4,2 cm avec une taille de pixel de 9,2 μ m. Le système est équipé d'un étage à ultra-haut vide (UHV) avec un porte-échantillon UHV à faible bruit, permettant l'imagerie et l'analyse des échantillons secs et humides sans contamination. De plus, le système est capable de produire des images de grande profondeur de champ, ce qui permet aux utilisateurs d'obtenir des images détaillées de grandes surfaces. En plus des capacités d'imagerie et d'analyse, le JSM 6300 dispose également de divers types de spectroscopie, y compris la spectroscopie à rayons X dispersifs en ligne électronique et en longueur d'onde (WDS). La spectroscopie en ligne électronique est utilisée pour l'analyse élémentaire en mesurant l'énergie de lignes de rayons X spécifiques émises par l'échantillon. WDS est utilisé pour l'analyse de surface en mesurant à l'aide de rayons X multiples pour mesurer la composition élémentaire et la distribution. JSM-6300 comprend également un canon électronique intégré qui est un canon à électrons basse tension, conçu pour fournir un bruit de fond ultra bas et des paramètres de fonctionnement étendus. Cela permet aux utilisateurs d'obtenir des images de contraste élevé avec une excellente uniformité sur de grandes surfaces. JEOL JSM 6300 est un puissant microscope électronique à balayage, offrant d'excellentes capacités de qualité d'image, de résolution et d'analyse. Il est adapté à une variété d'applications, y compris la recherche sur les semi-conducteurs et les matériaux, la métallurgie et l'analyse des défaillances, ainsi que les sciences de la vie.
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