Occasion JEOL JSM 6300F #116159 à vendre en France

JEOL JSM 6300F est un microscope électronique à balayage avancé (SEM) conçu pour l'imagerie haute performance à résolution sub-nanométrique. Il a une ultra haute résolution pour les applications de microscopie électronique à balayage (SEM) et de microscopie électronique à transmission (TEM). La conception robuste et polyvalente de JSM 6300F permet une imagerie haute vitesse avec un débit élevé, un faible coût et une extrême précision. JEOL JSM 6300F est équipé d'un canon à émission de champ à ultra haute résolution (FEG), d'une grande chambre avec une grande pièce polaire et d'un système optique électronique performant. Il offre une grande variété d'options de courant de faisceau et de distance de travail, permettant aux utilisateurs de cibler leurs objectifs d'imagerie souhaités. Ce microscope comprend également des fonctionnalités avancées qui comprennent l'EDAX (Energy Dispersive Analysis X-rays), la navigation et l'alignement automatisés, une étape automatisée pour la préparation des échantillons et un système de détection multi-faisceaux pour l'imagerie intégrée. La grande chambre et la pièce polaire améliorée permettent à JSM 6300F d'obtenir de plus grandes profondeurs de champ et une résolution plus élevée avec moins de distorsions. Il est capable d'imiter une variété d'échantillons, y compris des cellules vivantes, des matériaux non vivants, des matériaux mous et durs, ainsi que des nano particules. Les fonctions de manipulation des échantillons et d'auto-alignement permettent une imagerie facile et précise même à très faible grossissement. JEOL JSM 6300F offre la flexibilité et les performances les plus élevées en imagerie, analyse et automatisation. Son débit élevé et sa capacité à atteindre des résolutions élevées en font une option viable pour les chercheurs qui cherchent à imiter de petites structures et à analyser leur composition matérielle. Le système optique électronique intégré permet aux utilisateurs d'ajuster le courant du faisceau, l'angle et la distance de travail pour maximiser la résolution de leurs images souhaitées, les aidant à observer les détails fins et les microstructures. Les fonctions automatisées, les capacités d'analyse et sa gamme d'options de manipulation d'échantillons font de ce SEM un choix attrayant pour diverses applications de recherche.