Occasion JEOL JSM 6300F #53576 à vendre en France

JEOL JSM 6300F est un microscope électronique à balayage (SEM) conçu pour aider à l'étude de petits objets et spécimens à résolution ultime. Ce microscope électronique de pointe offre une imagerie haute résolution, un échantillon supérieur à la répétabilité des échantillons, et une gamme de flexibilité pour répondre aux exigences d'une grande variété d'applications. JSM 6300F dispose d'un canon à émission de champ haute résolution (FEG) pour produire un faisceau primaire d'électrons. Son état froid améliore la stabilité des images et sa haute tension d'accélération rend possible l'imagerie d'échantillons plus épais. Le fort courant du faisceau d'électrons permet une excellente luminosité de l'image et une charge minimale des échantillons. Un détecteur d'électrons secondaire, un détecteur d'électrons rétrodiffusé et un détecteur FE-secondaire rapide constituent les trois détecteurs de JEOL JSM 6300F. Combiné à son matériel haute résolution, cela permet une imagerie d'agrandissement plus élevée des structures complexes. Le système est équipé de capacités d'imagerie et d'analyse. Plusieurs techniques d'imagerie, telles que les images SE, l'image électronique secondaire, les images ESB et l'image SE/ESB peuvent être utilisées indépendamment ou en combinaison. Pour l'évaluation qualitative, le logiciel d'imagerie par microscopie assistée par ordinateur (CAM) JSM 6300F est particulièrement utile pour quantifier les fonctionnalités internes et travaille avec la vaste gamme d'outils d'ajustement du logiciel. JEOL JSM 6300F fournit également une gamme de capacités analytiques. Il a une sélection complète de techniques d'analyse et de numérisation automatisées, telles que la cartographie de spectres automatisés, l'analyse de profil linéaire, l'analyse de profil de zone, l'analyse élémentaire, et plus encore. La puissante fonction de radiographie embarquée offre une vue en haute résolution des zones submicroniques. Ces caractéristiques, combinées à sa facilité d'utilisation, font de JSM 6300F un outil idéal pour la science des matériaux, l'ingénierie de surface, la physique des appareils, la biologie et d'autres applications de recherche et développement. Ses niveaux élevés d'automatisation, de calibration fine et de répétabilité fiable en font l'un des SEM les plus puissants actuellement disponibles.