Occasion JEOL JSM 6300F #9224609 à vendre en France

ID: 9224609
Field Emission Scanning Electron Microscope (FE SEM).
JEOL JSM 6300F est un microscope électronique à balayage (SEM) avec une large gamme de fonctionnalités et de capacités. Il peut être utilisé pour analyser des matériaux de différentes tailles et formes à travers une variété de modes et de fonctions interactives. Le microscope offre une résolution plus élevée et des performances de vide ultra-élevé (UHV). JSM 6300F est équipé d'un canon à émission de champ (FEG) qui a une tension d'émission thermionique de type canon à champ froid de 1,2 kV et une tension d'émission thermionique de type canon à champ chaud de 1,3 kV. Le microscope dispose également d'une double étape d'inclinaison et de balayage xy qui permet une acquisition d'image rapide et efficace. La chambre à vide est équipée d'un système d'auto-nivellement intégré, et les échantillons sont placés sur un porte-échantillon rétractable. JEOL JSM 6300F offre une gamme de modes de détection, y compris la SEM classique, la SE à vide élevé (HV), la SE à basse tension et l'imagerie électronique rétrodiffusée (ESB). Il offre également une gamme complète de fonctions de visualisation et d'analyse telles que l'EDS, la carte des rayons X, le broyage ionique, l'imagerie par immersion dans l'eau et les fonctions intégrées de traitement d'image comme la moyenne, le dénoisage et la correction optique. Le microscope est compatible avec les systèmes d'exploitation Windows et Mac, et est livré avec un logiciel groupé qui permet à l'utilisateur de contrôler pleinement leurs données. JSM 6300F est également équipé d'une chambre de travail Live SEM rétractable qui permet à l'utilisateur d'effectuer des expériences à sec et in situ. Dans l'ensemble, JEOL JSM 6300F offre aux utilisateurs une résolution et une précision accrues dans leurs capacités d'imagerie et d'analyse. Il bénéficie d'un fonctionnement intuitif, permettant à l'utilisateur de mener rapidement et efficacement ses expériences SEM. Grâce à ses outils complets de manipulation de données, à l'imagerie haute résolution et à la compatibilité polyvalente du système d'exploitation, JSM 6300F est un microscope électronique à balayage idéal pour un large éventail d'applications de recherche et d'enseignement.
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