Occasion JEOL JSM 6300V #9098216 à vendre en France

JEOL JSM 6300V est un microscope électronique secondaire à balayage électronique (SEM) à haute performance. La technologie de pointe incorporée dans cet instrument en fait l'un des SEM les plus fiables et les plus puissants disponibles. Ses capacités d'imagerie de haute qualité et son large éventail de capacités analytiques en font un choix idéal pour une variété de besoins d'application. JSM 6300V intègre la dernière en matière d'optique électronique pour fournir une excellente imagerie des microstructures. Il utilise un pistolet à haute résolution et un objectif pour maximiser la résolution et minimiser les aberrations. Sa haute résolution fournit une imagerie supérieure des détails fins, y compris les couches minces et la structure nano-échelle. JEOL JSM 6300V offre également une meilleure profondeur de mise au point et des résolutions de profondeur aussi basses que 0.5nm, permettant des détails très précis. JSM 6300V est également équipé d'une gamme d'accessoires conçus pour améliorer ses capacités d'analyse. Il s'agit notamment d'un large éventail de détecteurs tels qu'un détecteur de rayons X dispersifs d'énergie (EDX), un détecteur de luminescence cathodique (CL), un détecteur de rétrodiffusion d'électrons (EBSD) et un système de diffraction à haute énergie (HED). Cela permet d'utiliser le SEM comme un instrument d'analyse puissant, permettant des études telles que l'imagerie de composition et l'analyse des limites du grain. En plus de ses capacités d'imagerie et d'analyse, JEOL JSM 6300V dispose d'une excellente flexibilité et facilité d'utilisation. Son logiciel complet offre une automatisation puissante de nombreuses tâches, telles que la reconnaissance et l'analyse des motifs. Il offre également une automatisation avancée du chargement des échantillons, pour simplifier le fonctionnement du microscope. Dans l'ensemble, JSM 6300V est un choix idéal pour une gamme d'applications d'analyse de matériaux. Sa combinaison d'imagerie puissante et de capacités d'analyse sophistiquées en font un incontournable pour les applications de microscopie électronique à balayage. Avec son excellente flexibilité, précision et fiabilité, JEOL JSM 6300V est idéal pour une variété d'applications dans un large éventail de recherches et d'analyses de matériaux.