Occasion JEOL JSM 6301F #293610717 à vendre en France

JEOL JSM 6301F est un microscope électronique à balayage (SEM) qui utilise un faisceau d'électrons focalisé pour générer des images et des spectres à haute résolution et à grande vitesse d'un échantillon. JEOL JSM 6301 F offre une large gamme de capacités d'imagerie et d'analyse avec son champ de vision de 50mm2 et jusqu'à 300kV accélération électronique, permettant la génération d'images détaillées à l'échelle nanométrique. L'élément principal du SEM est un canon à électrons et les électrons sont accélérés par un canon à émission de champ. Les électrons traversent une colonne jusqu'à la chambre d'échantillonnage, où les électrons interagissent avec l'échantillon et créent des images. Les images peuvent ensuite être analysées à l'aide de divers logiciels d'imagerie numérique. Ce logiciel permet de quantifier et d'analyser diverses caractéristiques présentes dans l'échantillon, telles que la topographie de surface, la composition et la structure. Un autre aspect puissant de JSM 6301F est la capacité d'effectuer des analyses élémentaires avec des électrons secondaires et rétrodiffusés. Ces techniques utilisent des niveaux d'énergie variables d'électrons pour sonder la composition de l'échantillon et offrent une cartographie chimique, une analyse quantitative de type Oxford, et la détection d'éléments lumineux à basse tension d'accélération. JSM 6301 F est très polyvalent, incorporant plusieurs types de détecteurs pour effectuer diverses mesures et analyses. La diffraction par rétrodiffusion électronique (EBSD) est un mode qui permet de caractériser l'information cristallographique et microstructurale à l'échelle nanométrique. Le système EBSD est conçu pour localiser avec précision les macrostructures fondamentales d'un échantillon telles que les limites des grains, les frontières jumelles et les limites des phases. JEOL JSM 6301F dispose également d'un détecteur de cathodoluminescence, d'une chambre à vide élevé et d'un détecteur à écran arrière monochromé pour renforcer ses capacités d'analyse. La combinaison de ces caractéristiques permet d'étudier diverses propriétés, telles que la résistivité, les champs électriques et magnétiques, la température, et plus encore. En plus de ses capacités d'analyse, JEOL JSM 6301 F offre également un flux de travail avancé. Le logiciel intègre une interface graphique intuitive qui permet aux utilisateurs d'entrer rapidement et facilement des paramètres pertinents, des informations d'échantillonnage et des paramètres de traitement. La combinaison d'imagerie puissante, d'analyse élémentaire et de logiciels intuitifs fait du JSM 6301F un outil précieux pour la recherche et l'industrie.