Occasion JEOL JSM 6301F #293628172 à vendre en France

JEOL JSM 6301F Scanning Electron Microscope (SEM) est un équipement d'imagerie de haute précision conçu pour offrir un maximum de performance et de commodité. Ce SEM a été conçu autour d'une colonne monolithique monolithique qui minimise les vibrations et augmente la stabilité, offrant ainsi à l'utilisateur un niveau élevé de productivité et de qualité d'imagerie. JEOL JSM 6301 F est capable d'une gamme de grossissements de 50x à 400.000x et une résolution d'image jusqu'à 0.5nm. Il peut être utilisé à la fois sous vide et dans l'environnement et permet une gamme d'options de porte-échantillons. JSM 6301F utilise une source d'électrons d'émission de champ de Schottky stabilisée thermiquement qui étend ses performances entre 2-30kV. Cette source fonctionne à un courant de 1.2A tout en travaillant à des tensions d'accélération de 3.2kV et se traduit par un excellent rapport signal sur bruit. Un système d'alignement automatisé garantit que l'objectif est toujours configuré pour des performances optimales et réduit l'intervention de l'utilisateur pour une imagerie optimale. L'optique électronique de JSM 6301 F a été spécifiquement accordée pour des performances maximales. La zone éclairée de l'échantillon est réglable par une ouverture de 3,2nm et un objectif de condenseur-illuminateur. Une lentille à double gradient inclinable (DGF) permet un contrôle précis du flux d'électrons. Cet objectif permet une imagerie précise à des grossissements élevés tout en conservant un large champ de vision. L'étape spécimen de JEOL JSM 6301F est réglable en hauteur et offre une portée de balayage totale allant jusqu'à 200mm tout en supportant une variété de porte-spécimens. Un mode à vide faible permet d'observer des échantillons sans avoir besoin d'une préparation préalable et permet également d'utiliser le microscope pour l'analyse élémentaire. Une étape de cryo en option est également disponible pour l'étude des spécimens à basse température. Pour une qualité d'image et une analyse de données maximales, JEOL JSM 6301 F est équipé d'une machine d'imagerie numérique intégrée. Cela permet à l'utilisateur de capturer des images de haute qualité des spécimens en temps réel et de les analyser instantanément après. L'outil d'imagerie numérique permet également à l'utilisateur de transférer des images vers un PC pour une analyse plus approfondie. Une interface de contrôle intuitive permet à l'utilisateur de configurer rapidement le microscope et d'ajuster des paramètres tels que la tension d'accélération, l'inclinaison d'accélération, le grossissement de balayage et le champ de vision. Le logiciel est conçu pour être convivial et fournit des instructions détaillées pour la mise en place du microscope et l'acquisition d'images. Dans l'ensemble, JSM 6301F Scanning Electron Microscope est une solution d'imagerie fiable et précise qui offre aux utilisateurs un niveau de performance et de convivialité inégalé.