Occasion JEOL JSM 6320F #136303 à vendre en France

JEOL JSM 6320F Scanning Electron Microscope (SEM) est un outil d'imagerie à haute résolution utilisé pour obtenir des images de contraste élevé d'échantillons à l'échelle nanométrique et au microscale. Il est capable d'imiter le contraste topographique et élémentaire et peut être utilisé à la fois pour l'inspection et l'analyse. Au cœur de JSM 6320F se trouve un canon à émission de champ qui peut fournir un faisceau d'électrons avec un courant de faisceau primaire élevé sur une plage de tension d'accélération de faisceau large de 0,5 à 30kV. Ce faisceau d'électrons est balayé à travers l'échantillon pour fournir les images requises. L'alignement précis du faisceau d'électrons sur l'échantillon est assuré par l'inclusion d'une caractéristique de micro-alignement intégrée au microscope, ce qui permet d'obtenir les meilleures images possibles. L'optique électronique de JEOL JSM 6320F comprend des sources d'électrons Schottky et LaB6, une colonne de lentille quadrupolaire qui assure une stabilité et une aberration maximales de la puissance, une lentille latérale accélérée, une lentille de condenseur et un système de faisceau parallèle pour réduire la quantité de diffusion et améliorer la résolution. De plus, un condenseur modifiable permet une qualité d'image optimale à tout grossissement. La haute résolution de JSM 6320F SEM est rendue possible par son détecteur d'électrons secondaire Everhart-Thornley et son grand champ de vision. Le détecteur Everhart-Thornley est conçu pour capturer chaque électron rétrodiffusé par l'échantillon, fournissant ainsi des images plus précises avec plus de contraste. Le grand champ de vision permet à l'utilisateur d'visualiser une large surface, ce qui permet d'effectuer rapidement des inspections et des analyses d'échantillons. En plus de l'imagerie, JEOL JSM 6320F est également capable de fournir diverses capacités d'analyse. Il s'agit notamment de la diffraction par rétrodiffusion d'électrons, de l'imagerie électronique secondaire, de l'analyse thermique par balayage in situ et de l'analyse chimique. L'analyse chimique in situ peut être effectuée à l'aide de détecteurs de spectroscopie de rayons X dispersive d'énergie (EDS) et de spectroscopie de rayons X dispersive de longueur d'onde (WDS). En conclusion, JSM 6320F est un microscope électronique à balayage avancé qui combine l'imagerie haute résolution avec des capacités analytiques puissantes. Avec son canon à émission de champ, son détecteur Everhart-Thornley et sa colonne de lentilles quadrupolaires, il est en mesure de fournir des images de contraste claires et élevées au nano et au microscale, tandis que ses détecteurs EDS et WDS permettent l'analyse chimique des échantillons. En tant que tel, il est un outil idéal pour la microscopie et l'analyse d'échantillons pour de nombreuses industries et applications de recherche.