Occasion JEOL JSM 6320F #9134048 à vendre en France

JEOL JSM 6320F est un microscope électronique à balayage avancé conçu pour l'imagerie et l'analyse d'une variété de matériaux. Il utilise un faisceau d'électrons à balayage pour capturer des images à haute résolution d'atomes simples, de particules, de particules de différentes tailles, et d'autres matériaux. JSM 6320F dispose d'un spectromètre à rayons X dispersant l'énergie intégré et de capacités d'affichage numérique, permettant aux utilisateurs d'analyser leurs échantillons en temps réel. JEOL JSM 6320F utilise un canon à électrons à incandescence en tungstène pour générer le faisceau d'électrons à balayage. Ce faisceau d'électrons est ensuite balayé à travers l'échantillon pour créer une image électronique bidimensionnelle de l'échantillon. Le faisceau d'électrons est focalisé à l'aide d'une lentille de condenseur, et défocalisé à l'aide d'une ouverture réglable. Cela permet au microscope de produire des images claires et à haute résolution et permet aux utilisateurs d'observer des détails complexes des échantillons. En outre, JSM 6320F est équipé d'un spectromètre intégré de perte d'énergie d'électrons (EELS) pour détecter et analyser les états d'énergie des électrons de l'échantillon. Cela permet de disposer de capacités analytiques supplémentaires et de détecter une composition matérielle spécifique. De plus, l'EELS peut être utilisé pour détecter la composition élémentaire et l'orientation de l'échantillon, ainsi que pour mesurer l'épaisseur. JEOL JSM 6320F est également livré avec un détecteur de plaques multi-canaux intégré. Ce détecteur permet de capter des informations provenant du faisceau d'électrons qui est ensuite utilisé pour générer une image de l'échantillon. Le détecteur peut être utilisé pour capturer des images de contraste élevé de divers échantillons, et est particulièrement utile lors de l'étude de microstructures au niveau atomique. Le détecteur permet également de réduire le bruit de fond et d'augmenter la résolution d'image. Enfin, JSM 6320F est équipé d'un équipement d'affichage numérique qui permet aux utilisateurs d'observer leurs analyses en temps réel. Ce système d'affichage offre un contraste et une résolution plus élevés qu'un écran fluorescent classique. De plus, l'unité de visualisation peut être utilisée pour revoir des images une fois les analyses terminées. En conclusion, JEOL JSM 6320F est un puissant microscope électronique à balayage qui peut fournir des images à haute résolution d'une variété d'échantillons. Il est équipé d'un faisceau d'électrons à balayage, d'un spectromètre à rayons X dispersifs d'énergie, d'un détecteur de plaques multi-canaux et d'une machine d'affichage numérique pour les observations en temps réel. Ce puissant microscope permet aux utilisateurs d'analyser et d'observer avec précision leurs échantillons en détail.